판매용 중고 ADVANTEST T 5581 #9070719

ADVANTEST T 5581은 집적 회로 및 기타 고급 반도체 부품을 테스트하기 위해 설계된 고급 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 메인프레임, 유닛 컨트롤러 및 여러 IC 테스터로 구성됩니다. 메인프레임 (Mainframe) 에는 최종 테스트에 필요한 모든 구성요소가 포함되어 있으며 IC 테스터용 플랫폼을 제공합니다. 기계 컨트롤러 (Machine Controller) 는 엔지니어가 요구하는 모든 테스트 단계를 스케줄링하고 실행할 책임이 있습니다. 여기에는 모든 IC 테스터에 연결된 강력한 제어 프로세서가 포함되어 있습니다. 이 프로세서는 테스트 매개변수를 제어하고, 필요한 테스트 데이터를 IC 테스터에 제공합니다. 또한 이 도구 컨트롤러에는 테스트 결과를 저장할 수 있는 실시간 데이터베이스가 들어 있습니다. ADVANTEST T5581에는 현대 IC 테스트를 위해 설계된 다양한 IC 테스터가 장착되어 있습니다. 이 자산은 여러 칩 설계, 저전력 작동, 다중 게이트 수 (multiple gate count) 를 포함하는 기본 및 복잡한 IC 아키텍처를 모두 테스트할 수 있습니다. 각 최종 테스트 IC 테스터 (IC tester) 는 다양한 테스트 시나리오 및 매개변수로 설정하여 모든 IC 를 올바르게 테스트할 수 있습니다. T 5581 은 확장 가능한 자원을 활용하여 테스트 처리량 및 모델 성능을 최적화합니다. 장비는 더 많은 테스터를 지원하고 모든 테스트 매개변수를 충족하도록 확장 (scale-up) 할 수 있습니다. 확장 가능한 테스트 (scalable test) 를 사용하면 테스트 시간을 줄이고 시스템의 전체 처리량을 늘릴 수 있습니다. T5581은 IC 내에서 오류 및 결함을 정확하게 감지하고 보고할 수 있습니다. 집적회로의 추가, 수정 등의 요인에 의해 발생할 수 있는 숨겨진 장애를 감지할 수도 있다. & # 160; & # 160; 또한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 모든 테스트 및 IC 구성을 손쉽게 관리할 수 있습니다. 장점 T 5581 (ADVANTEST T 5581) 은 집적 회로에 대한 높은 정확도 테스트 및 장애 감지를 제공하도록 설계된 고급 기계입니다. 이 툴은 기존 테스트 절차 및 애플리케이션 프로그램에 쉽게 통합될 수 있습니다. 이러한 확장성으로 인해 소규모/대규모 애플리케이션 제품군에 모두 적합하며, 포괄적인 장애 감지 (fault detection) 기능을 통해 정확도가 높은 최종 테스트 시나리오에 적합합니다.