판매용 중고 ADVANTEST T 5581 #162958
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ID: 162958
Memory test system
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD B ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD E ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC? CONFIGURATION [1-32] .............> 1-20
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A? 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE.
장점 T 5581 (ADVANTEST T 5581) 은 반도체 장치, 전자 부품 및 시스템을 포함한 전자 부품 및 하위 어셈블리의 테스트 및 측정을 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 정교한 사용자 인터페이스 (GUI (Graphical User Interface)) 를 통해 운영자가 장치를 쉽게 작동시키고 다양한 테스트 기능 및 리소스에 액세스 할 수 있습니다. 이 머신에는 콘솔, 자동 (automatic) 또는 수동 (manual) 테스트 헤드, 다양한 테스트 Probe 및 Probeset이 포함되어 있어 요구 사항에 따라 쉽게 도구를 구성할 수 있습니다. 사용 가능한 테스트 헤드 옵션을 사용하면 CMOS ICs (Integrated Circuits), Memory IC 및 RF 응용 프로그램과 같은 다양한 구성 요소 유형에 자산을 조정할 수 있습니다. 이 모델은 검증된 ADVANTEST T 7500 제품군의 아키텍처에 기반을두고 있으며, 유연하고 정확하며 신뢰할 수 있는 테스트를 제공합니다. 8 채널 메인프레임 (Mainframe) 은 고속 데이터 전송 속도와 높은 처리량으로 실시간 (Real-Speed) 작동을 제공하며, 다양한 구성 요소 유형을 효과적으로 테스트할 수 있습니다. 이 장비를 통해 사용자는 다양한 테스트 시나리오를 만들 수 있으며, 최대 30 개의 테스트 프로그램을 저장하여 손쉽게 리콜할 수 있습니다 (영문). 테스트 헤드에는 펄스 생성기, 바이어스 모듈 (bias module), 펄스 변조 (pulse modulation) 와 같은 내장 리소스가 포함되어 있으므로 다양한 테스트를 수행하고 정확하게 특성화할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 다양한 테스트 도구, 툴 세트, 향상 기능을 갖추고 있으며, 전체/분수 뷰 테스트, 핀 제한 (pin-limit) 테스트, 초과 제한 (over-limit) 테스트, 다양한 테스트 출력 형식 등 강력한 기능을 제공하도록 사용자 정의할 수 있습니다. 이 장치는 다양한 구성 요소와 어플리케이션 (application) 을 위해 설계되었으며, 다양한 상황에서 안정적이고 정확한 결과를 제공합니다. 다양한 기능 세트와 결합된 ADVANTEST T5581은 사용자가 회로 내 (in-circuit) 테스트를 위한 최고의 솔루션을 제공합니다.
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