판매용 중고 ADVANTEST T 5581 P #161369
이 품목은 이미 판매 된 것 같습니다. 아래 유사 제품을 확인하거나 연락해 주십시오. EMC 의 숙련된 팀이 이 제품을 찾을 수 있습니다.
확대하려면 누르십시오
판매
ID: 161369
Memory test system
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.320DR+144I/O
2.480DR+144I/O
3.320DR+288I/O
4.480DR+288I/O [1-4] ............> 1
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 2
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.800CH
2.1600CH [1,2] .....................> 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD B ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD C ....> 0 0 0 0 0 0
CHILD D ....> 0 0 0 0 0 0
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-48,97-128] ......> 1-16
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> YES
SIZE OF DBM BOARD ....................................> 64KW*240B
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1-2] [1:NORMAL(AFM) 2:MRA4(FMRA)] .......> 1
NUMBER OF FM BOARD [0-8] ............................> 4
SIZE OF AFM BOARD [0-2] [0:256K 1:1M 2:4M] ........> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [ 3] (3: MRA3) ................ > 3
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1-8] ...........................> 4
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3] (1: 4M*72BIT)
(2: 8M*72BIT)
(3:16M*72BIT) .........> 1
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
RESULT DATA HI-SPEED READ FUNCTION [Y,N] .............> YES
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> YES
END SAVE.
장점 T 5581 P (ADVANTEST T 5581 P) 는 자동차 전자 제품, 가전 제품, 반도체 장치 및 기타 집적 회로 부품과 같은 디지털 및 혼합 신호 제품의 테스트를 위해 특별히 설계된 자동 기능 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 디바이스에 대해 높은 성능과 안정적인 테스트 범위를 모두 제공합니다. 장점 T5581P는 최대 50MHz 클럭 속도와 최대 4개의 아날로그 또는 디지털 입/출력 카드를 갖춘 12 채널 병렬 다목적 I/O를 통합합니다. 따라서 최대 24개의 채널을 동시에 테스트할 수 있습니다. 또한 듀얼코어 프로세서 (Dual-Core Processor) 를 통해 최고 400kHz 클럭 주파수와 초당 150m 이상의 주기로 더 빠른 테스트 주기를 제공합니다. 내장형 2D 스캐너는 테스트 효율성 향상, 빠른 주기 속도 향상, 특허를 받은 멀티센서 (multi-sensor) 테스트 신호는 허위 장애 보고서를 제거합니다. 또한 사용하기 쉬운 외부 프로그래밍 인터페이스는 Visual Basic, C++, ToolC 등을 포함한 다양한 프로그래밍 언어를 지원합니다. 이 시스템은 강력한 테스트 개발 환경과 결합되어 복잡한 테스트 시나리오를 설계하고 고객 사양에 따라 테스트 적용 범위 (test coverage) 를 손쉽게 사용자 정의할 수 있는 유연성을 제공합니다. Windows 기반 GUI를 사용하면 I/O 채널, 기기, 소프트웨어, 아날로그, 디지털 신호 정의 등 테스트 내용을 신속하게 변경하고 조정할 수 있습니다. 또한 T 5581P 는 사용자 친화적인 인터페이스뿐만 아니라, 고객 요구 사항에 맞는 벤치마킹 (benchmarking) 테스트 프로그램을 자동으로 생성하는 자동 생성 방식도 갖추고 있습니다. T5581P (T5581P) 는 제조업체가 제품의 엄격한 품질 요구 사항을 충족하도록 도와 주는 안정적이고 효율적인 자동 테스트 솔루션입니다. 안전성 (Safety) 기능이 갖춰져 있어 테스트 실행 시 안전하고 오류 없는 (Error-Free) 작업을 보장하며 기능 (Functional) 및 경계 (Boundary) 테스트 모두에 사용할 수 있습니다. 이 툴은 또한 하나의 설치 (setup) 에서 여러 디바이스의 기능을 확인할 수 있으므로 대규모/복잡한 테스트에 적합합니다. 또한, 유연성 있는 아키텍처 (Flexible Architecture) 를 통해 여러 테스트 제품군과 관련 장비를 하나의 자산으로 통합하여 효율성 및 비용 절감 효과를 높일 수 있습니다.
아직 리뷰가 없습니다