판매용 중고 ADVANTEST T 5571P #9411694

ADVANTEST T 5571P는 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 반도체 DUT (테스트 대상 장치) 의 온라인 생산 테스트를 위해 속도, 가격, 성능 최적화 등의 애플리케이션을 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 다양한 반도체 제조업체의 최신 제품과 호환되는 핵심 기술 (Core Technology) 을 통합하여 장치 테스트 요구에 맞는 호환성과 최적화를 보장합니다 (영문). 테스트 시스템 (Test System) 은 최신 테스트 기술을 기반으로 운영 비용을 절감하면서 테스트 시간을 단축할 수 있습니다. 장점 T5571P (ADVANTEST T5571P) 는 다양한 테스트 요구 사항을 처리하고 다양한 ATE (Automated Test Equipment) 와의 인터페이스를 수행할 수 있는 고속, 고성능 생산성 장치입니다. 동적 RAM, 동적 ROM, 고속 마이크로 프로세서, 아날로그 및 혼합 신호 ASIC, 인코더 및 디코더, 마이크로 컨트롤러, 게이트 어레이 등 다양한 제품을 테스트하는 데 적합합니다. 이 시스템은 고성능 패턴, 고급 스토리지 및 검색 시스템, 실시간 도구 모니터링 및 제어, 다양한 테스트 소켓, 유연한 엔지니어링/통합 기능을 갖추고 있습니다. 고급 패턴 및 벡터 시퀀서 (Advanced pattern and vector sequencer) 는 가장 복잡한 생산 테스트 솔루션을 구현하기위한 효율적이고, 고속 및 고급 벡터 생성 방법을 제공합니다. 확장성을 높이기 위해 여러 축 병렬 테스터 제어 및 프로토 타입 패턴 개발 기능을 제공합니다. 또한 T 5571 P에는 결함 찾기 (fault finder) 및 온웨퍼 (on-wafer) 디버깅 제품군과 같은 강력하고 사용하기 쉬운 다양한 진단 도구가 포함되어 있습니다. 이를 통해 결함이 있는 IC를 빠르고 정확하게 분석할 수 있으며, 특수기능은 에셋 수준의 장애 (fault) 와 개별 레지스터 레벨 (register level) 을 효율적으로 감지할 수 있도록 설계되었습니다. 또한 이 모델의 고급 설계는 WAN (Wide Area Network) 을 통한 원격 제어 및 모니터링을 위한 정교한 네트워크 지원을 제공합니다. 또한 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface, Graphical User Interface, Graphical User Interface) 가 장착되어 있어 테스트 프로세스를 사용자에게 빠르고 직관적으로 구성하고 테스트 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다. T 5571P (T 5571P) 는 반도체 기업에서 생산수요를 충족하기 위해 안정적이고 비용 효율적인 테스트 장비를 찾는 데 이상적인 솔루션입니다. 이 제품은 속도, 성능, 다용도, 확장성 등의 독보적인 조합을 제공하며, 사용자는 운영 비용을 최소화하면서 빠르고 효율적으로 테스트 작업을 수행할 수 있습니다.