판매용 중고 ADVANTEST T 5383 #9278359

ADVANTEST T 5383 Test Equipment는 오늘날의 고성능 IC (Integrated Circuit) 에 대한 테스트 적용 범위를 제공하고 최적화를 실현하도록 설계된 최종 테스트 시스템입니다. 고속 신호 무결성, 긴 테스트 시간, 높은 처리량을 갖추고 있습니다. 기능 테스트, RF 테스트, 홀 효과 테스트, 지연 테스트 등 다양한 테스트 애플리케이션을 지원합니다. 이 장치는 테스트 헤드, 컨트롤러, 전원 장치, 테스트 머신 컨트롤러 등 4 개의 기본 모듈로 구성됩니다. 테스트 헤드에는 테스트 중에 장치의 입출력 (IO) 핀에 액세스하는 데 사용되는 테스트 프로브 헤드가 있습니다. 또한 장치의 특정 전자기 특성을 측정하는 고속 자기 측정 (Magnetic Measurement) 도구가 포함되어 있습니다. 이 컨트롤러에는 테스트 대상 디바이스에 대한 포괄적이고 정확한 데이터를 얻을 수 있는 하이엔드 (High-End) 데이터 획득 모듈이 포함되어 있습니다. 전원 장치 (Power Unit) 는 테스트 중에 장치를 구동하는 데 사용되는 펄스 전원을 제공합니다. 마지막으로, 테스트 도구 컨트롤러 (Test Tool Controller) 는 다른 모듈 간의 브리지 역할을 수행하여 테스트 프로세스가 통합되고 체계적인지 확인합니다. 장점 T5383 테스트 자산 (Test Asset) 은 모듈성과 유연성을 제공하며 확장 테스트 기능, 측정 및 모니터링 기능을 제공합니다. 강력한 임베디드 (Embedded) 처리 아키텍처를 갖추고 있어 고속 신호 무결성을 제공하면서 신속하게 신호를 캡처할 수 있습니다. 또한 CBA-Tool (Advanced Condition Based Analyzing Tool) 을 사용하면 유연한 방법으로 수익률 및 보고 기능을 최적화할 수 있습니다. 마지막으로 DAS (Dynamic and Adaptive Scanning) 기술을 제공하여 테스트 범위를 더욱 향상시키고 정확도를 높입니다. 간편한 설정 (setup) 을 통해 보다 높은 확장성을 제공하면서 즉석에서 신호 상태를 캡처할 수 있습니다. 또한 DAS 기능에는 고급 결함 분석 모델 (Advanced Defect Analysis Model) 과 ID 인식 기능 (Identity Recognition Capability) 이 포함되어 있습니다. 결론적으로, T 5383 테스트 장비는 오늘날의 정교한 IC에 대한 필수 테스트 솔루션입니다. 견고한 테스트 기능, 안정성, 확장성 등을 갖춘 EMC DTM 은 최고의 생산량 최적화 잠재력, 포괄적인 테스트 기능을 제공합니다.