판매용 중고 ADVANTEST T 5377S #293764490

장점 T 5377S (ADVANTEST T 5377S) 는 다중 어플리케이션 및 결함 테스트를 위해 설계된 안정적이고, 효율적이며, 정확하게 수행되는 최종 테스트 시스템입니다. 24단계 아키텍처는 확장 가능한 Testcell 구성을 지원하므로 테스트 요구 사항에 관계없이 테스트 시스템을 자동화할 수 있습니다. 고급 측정 기능을 제공하며, 데이터 스트리밍을 통해 처리량 향상을 위한 실시간 (real-time) 처리를 지원합니다. 장점 T5377S는 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 를 사용하여 테스트 프로세스를 단순화합니다. 이 시스템은 데이터 수집 (data collection) 을 지원하므로 데이터를 표준 형식으로 쉽게 저장할 수 있습니다. 다양한 스캔 체인 아키텍처는 데이터 스트리밍을 위해 최대 32 비트로 만들어집니다. T 5377 S CPU는 최대 4 개의 32 비트 프로세서와 최대 8 기가바이트의 메모리로 작동하여 자동 테스트에 적절한 리소스를 제공합니다. T 5377S 는 임베디드 센서를 사용하는 고급 교정 및 측정 기술로 인해 높은 정확도를 측정합니다. 고급 조정 옵션을 사용하면 고속 스캐닝 (Scanning) 및 병렬 테스트 (Parallel Testing) 작업을 모두 빠르고 쉽게 보정할 수 있습니다. 고급 결함 진단 (Advanced Defect Diagnosis) 및 결함 감지 알고리즘으로 설계되어 개별 결함 칩을 신속하게 식별합니다. T5377S에는 강력한 Signal Conditioner (SCs), Clock Generator (CG) 및 Probe가 포함되어 있으며 모두 ADVANTEST T 5377 S 컨트롤러와 동기화됩니다. 이 시스템은 트랜지스터 영역 테스트, 2 차 매개변수 최적화, full-die 특성을 포함한 다양한 실리콘 테스트 구조를 측정 할 수 있습니다. 또한 die 정보를 신속하게 식별하기위한 완전한 식별 루틴이 있습니다. ADVANTEST T 5377S에는 빠른 데이터 결과 계산을위한 실시간 데이터 분석 엔진도 포함되어 있습니다. 테스트 시간을 줄이기 위해 높은 처리량 신호 조절 기술이 있습니다. 자가 진단 기술은 신호 및 오류의 불규칙성을 감지하여 정확한 결과를 확인합니다. 또한 신호 수준 성능을 추적하고 테스트 실패를 해결할 수 있는 signal-trace 기능도 포함되어 있습니다. 장점 T5377S 는 신뢰성이 뛰어나며, 포괄적이고 완벽한 멀티 애플리케이션 테스트/결함 분석 기능을 제공합니다. 이 제품은 우수한 제품 수명 테스트를 제공하며 수동 (manual) 테스트 셀 구성이 필요하지 않습니다. 고급 교정 및 측정 기술, 멀티 애플리케이션 테스트 지원, 임베디드 센서, 실시간 데이터 분석 (data analysis) 기능을 통해 다양한 최종 테스트 시스템에 적합합니다.