판매용 중고 ADVANTEST T 5377S #293764486

ADVANTEST T 5377S
ID: 293764486
Memory tester Missing Hard Disk Drive (HDD) (20) WBL-PS11V68A SUB ACC (4) SHINWA CH7-H1-D1 Cooling units (6) CALSIG PPS Work station: (4) WBL-029065 TPRCPU (4) DC WBL-H3610027TP6A TP6A DPU I/F PSMON I/F LG FLATRON E1910P-BN Monitor Main frame: (22) PGFM (14) WBL-PS3750WX02 MAIN ACC Test head 1: (4) DR PE (16) I/O PE (16) PPS (6) CALSIG Test head 2: (4) DR PE (16) I/O PE.
ADVANTEST T 5377S Final Test Equipment는 혼합 신호 반도체 장치의 대용량 최종 테스트를위한 고성능 멀티 사이트 테스트터입니다. 이 시스템은 단일 연산자와 동시에 최대 4 개의 DUT (테스트 대상 장치) 를 처리 할 수 있습니다. 장점 T5377S는 고유한 모듈식 DUT (Modular DUT) 구성을 사용하여 유연한 장치 테스트를 수행하고 다양한 디바이스 유형을 수용할 수 있습니다. 또한 각 장치에 대한 자동 테스트 설정과 전력 소비 설정 (power consumption setting) 을 제공하는 사용자 정의 알고리즘으로 프로그램됩니다. T 5377 S에는 테스트 시간을 줄이고 정확성을 향상시키는 몇 가지 기능이 있습니다. 고속 양방향 PathMark-Bus TM 아키텍처를 사용하며, 최대 4개의 동기화된 IPM ® 모듈을 사용하여 정확도를 향상시켜 더 빠른 테스트를 수행할 수 있습니다. 장치 프로그래밍은 PathMark-Bus TM 인터페이스를 통해 촉진되며, 이는 테스트 결과를 각 IPM® 모듈에 신속하게 전달합니다. 이로 인해 총 테스트 시간이 3초 미만입니다. T5377S 시스템에서도 다양한 테스트 단계가 수행됩니다. 여기에는 장치 교정, 파라 메트릭 테스트, 오실로스코프 측정 및 결함 진단이 포함됩니다. 또한 여러 유형의 장치에 대해 여러 테스트 설정 (예: 각 장치에 대해 여러 개의 사용자 정의 테스트 설정 저장 기능) 을 사용할 수 있습니다. 또한 ATR (Automated Test Reports) 및 데이터 로거 (Data Logger) 와 같은 툴을 통해 시간이 지남에 따라 테스트 결과를 추적하고 보고할 수 있습니다. T 5377S는 사용자 안전을 고려하여 설계되었습니다. 쇼트 회로 (short circuit) 로부터 운영자와 장비를 보호하는 몇 가지 측정과 테스트 중 전류 (current) 및 전압 (voltage) 수준이 특징입니다. 이 모델은 또한 RF-shielding for EMC compliance 를 통해 구성되며, 디바이스 테스트를 위한 안전하고 효율적인 방법을 제공합니다. 전반적으로 ADVANTEST T 5377 S Final Test Equipment는 대용량, 빠르고 정확한 장치 테스트를 위해 설계된 고급 테스트터입니다. 고급 기능과 친환경적인 설계를 통해 '운영/장치 테스트' 를 위한 탁월한 툴이 되었습니다. 이 시스템은 또한 장기 테스트 안정성, 효율성 향상, 생산 비용 절감을 위해 설계되었습니다.
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