판매용 중고 ADVANTEST T 5377 #9210975
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ID: 9210975
Memory tester
(2) Test heads
Channels
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1. 512DR + 320 I/O (QUARTER)
2. 1024DR + 640 I/O (HALF)
3. 2408DR + 1280 I/O (FULL) [1-3] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NOT EXIT
1. EXIT
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NOT EXIT
1. EXIT
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ...........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [1:8G, 2:16G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] ..................> NO.
ADVANTEST T 5377은 테스트 및 측정을 위한 완벽한 기능을 갖춘 비용 효율적인 솔루션인 Final Test Equipment입니다. 이 제품은 오늘날의 복잡한 제품 설계/개발 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었으며, 시스템 분석/장애 진단 (Rapid System Analysis and Failure Diagnostics) 에 필요한 포괄적인 툴을 제공합니다. ADVANTEST T5377은 고도의 FPGA (Field Programmable Gate Array) 기술을 기반으로 하며 높은 테스트 속도와 낮은 데이터 오버헤드를 지원하는 혁신적인 설계 기술을 사용합니다. 고속 펄스 (High Speed Pulse) 테스트 시스템은 양방향으로 펄스 신호를 측정하며 애플리케이션별 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이 장치에는 최대 2.5kW 출력이 가능한 내장형 전원 공급 장치도 있습니다. 이 시스템은 또한 사용자 친화적, 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통합하여 숙련된 사용자와 초보자 사용자의 요구를 모두 충족하는 빠르고, 강력하고, 사용하기 쉽고, 구성 도구를 제공합니다. 통합 테스트 자산 (Integrated Test Asset) 에는 여러 가지 유용한 기능이 포함되어 있어, 모델 분석을 수행하는 동안 개발 팀이 잠재적인 문제를 빠르고, 정확하게 파악하고, 파악할 수 있습니다. Circuit Trace, Signal Check, Error Capture, Clock Trace 및 Auto Diagnosis와 같은 고급 기능을 사용하면 문제 격리 프로세스를 간소화할 수 있습니다. 인수 장비는 광대역 (Wide Band) 인수 아키텍처를 활용하여 고속 및 저전력 소모로 신호를 캡처할 수 있습니다. 최대 55dB 의 동적 범위 (Dynamic Range) 를 통해 점점 더 복잡한 애플리케이션의 요구 사항을 해결할 수 있습니다. T 5377 은 다양한 테스트 매개변수를 지원하므로, 혼합 신호, 고주파 통신, 신호 무결성, 디지털 회로 기판 등 다양한 제품을 테스트하는 데 적합합니다. 이 시스템은 또한 단일 핀 격리 (single-pin isolation) 기능을 가지고 있으며, 사용자가 나머지 테스트 베드 환경으로부터 분리 된 개별 Probe 신호를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 전반적으로, T5377 은 제품 설계 및 개발 (design and development) 의 까다로운 요구 사항을 위해 특별히 설계된 최종 테스트 장치입니다. 강력하면서도 직관적인 기능, 고속 펄스 테스트 시스템 (High Speed Pulse Test System), 탁월한 데이터 획득 기능의 조합으로, 전례없는 복잡성 수준을 측정하는 데 비용 효율적인 솔루션입니다. 광범위한 애플리케이션/제품 지원을 통해, ADVANTEST T 5377 은 다양한 제품을 테스트하고 검증하는 데 이상적인 솔루션입니다.
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