판매용 중고 ADVANTEST T 5377 #293587593
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ID: 293587593
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 512DR+ 320I/O(QUARTER)
2. 1024DR+ 640I/O(HALF)
3. 2048DR+ 1280I/O(FULL) [1-3] ………>3
NUMBER OF TEST HEAD [1, 2] ………>2
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE] ………>1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0. NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A, B ….> 1 1 1 1
CHILD C, D ….> 1 1 1 1
CHILD E, F ….> 1 1 1 1
CHILD G, H ….> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A, B ….> 1 1 1 1
CHILD C, D ….> 1 1 1 1
CHILD E, F ….> 1 1 1 1
CHILD G, H ….> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0. NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A, B ….> 1 1 1 1
CHILD C, D ….> 1 1 1 1
CHILD E, F ….> 1 1 1 1
CHILD G, H ….> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A, B ….> 1 1 1 1
CHILD C, D ….> 1 1 1 1
CHILD E, F ….> 1 1 1 1
CHILD G, H ….> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ………………> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-64] ………………> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ………………> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-64] ………………> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50, 60] ……………………………………> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y, N] ………………………………………> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] …………………………………………> 16
SIZE OF FMRA BOARD [1:8G, 2:16G] …………………………………………> 1
PM (PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
RCPU STN1 A-D EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
RCPU STN1 E-H EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
RCPU STN2 A-D EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
RCPU STN2 E-H EXIST [Y, N] …………………………………………> YES
END SAVE.
ADVANTEST T 5377은 광범위한 운영 테스트 요구를 충족하도록 설계된 Final Test Equipment입니다. T2000 시스템 제품군의 완전하게 자동화되고 통합된 버전이며, 다양한 운영 환경에서 높은 정확도 테스트를 실시합니다 (영문). ADVANTEST T5377은 다양한 테스트 리소스 핀 수, 방전 및 온도 제어 기능, 멀티 사이트 병렬 테스트 기능 (multi-site parallel testing) 을 통해 구성 요소 및 어셈블리에 대한 포괄적인 기능 테스트 범위를 제공합니다. 전체 크기 (size) 와 무게 (weight) 요구 사항을 최소화하여 운영 환경을 위한 매력적인 솔루션이 되었습니다. T 5377은 Windows 기반 네트워크 연결 제어 레이어와 고급 I/O 하위 시스템을 갖추고 있습니다. 제어 계층은 호스트 컴퓨터 (Host Computer) 로 구성되며, 사용자 친화적 테스트 소프트웨어 개발, 테스트 자동화 및 여러 사이트의 사용자 정의 통합을 위한 플랫폼을 제공합니다. I/O 서브시스템 (I/O Subsystem) 은 다양한 테스트 계측을 동시에 구동할 수 있는 멀티 포트 모듈이며, 측정 감지 장치를 통합할 수 있습니다. T5377 은 여러 사이트를 제어하기 위한 독립적인 직렬 네트워크가 있는 Host Computer 와 기기 (Host Computer) 간에 고속 직렬 데이터 전송 속도를 제공합니다. ADVANTEST T 5377은 마이크로 컨트롤러 (micro controller), 의료 장치 (medical device) 와 같은 다양한 장치 유형에 대해 테스트를 사용자 정의하는 기능으로 더욱 향상되었습니다. 사용자 지정 (customizable) 테스트 세트를 사용하면 자체 테스트 계획을 간편하게 개발하고 구성할 수 있습니다. 이 고유한 기능은 다양한 유형의 디바이스를 테스트해야 하는 운영 환경에 유용합니다. 이 장치는 진화하는 기술 및 테스트 요구 사항에 적응할 수 있는 유연성을 제공합니다. 다양한 기능과 유연한 접속성을 갖춘 고급 개방형 아키텍처 (Open Architecture) 설계를 활용합니다. 다이 경도 (die hardness) 및 충격 (shock) 과 같은 많은 기능 테스트 플러그인도 사용할 수 있습니다. 장점 T5377은 프로덕션의 여러 사이트를 제어하기 위한 여러 토폴로지를 제공합니다. 디버깅 및 문제 해결을 위한 광범위한 진단 기능이 통합되어 있습니다. 또한, 이 시스템은 모든 유형의 장치, 장비, 소프트웨어를 통합하여 성능을 극대화합니다. 결론적으로 T 5377 Final Test Tool은 운영 테스트를 위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다. 고급 기능과 강력한 유연성을 갖춘 T5377은 다양한 환경에서 강력한 성능, 높은 정확도 테스트를 제공합니다 (영문).
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