판매용 중고 ADVANTEST T 5377/75 #9123602

ADVANTEST T5377/75는 트랜지스터, 다이오드, 저항, 커패시터 및 기타 여러 장치와 같은 이산 장치의 검증, 프로세스 분석 또는 특성화에 적합한 고급 최종 테스트 시스템입니다. 높은 처리량 (Throughput) 기능을 통해 다양한 디바이스 테스트 요구를 충족하는 유연성과 더불어 정확한 신호 분석 (Signal Analysis) 기능을 제공합니다. T5377/75에는 두 개의 기본 시스템, 테스터 장치 및 프로그래밍 가능한 테스트 컨트롤러가 포함됩니다. 테스터 장치는 테스트 헤드 장치, 측정 헤드, 신호 입력/출력 (I/O 장치) 및 특수 보드로 구성됩니다. 측정 헤드에는 AC, DC, 펄스 및 일시적 신호를 측정하기 위해 외부 프로브를 연결하기위한 여러 테스트 채널이 제공됩니다. 온도 조절 모듈 (Temperature control module) 은 또한 개별 테스트 채널의 환경을 조절하여 테스트할 수 있는 적절한 작동 환경을 보장합니다. 신호 I/O 장치를 사용하면 펄스 생성기 (pulse generator) 또는 데이터 획득 시스템 (data acquisition system) 과 같은 외부 분석기에 외부 연결이 가능합니다. 전문 보드는 바이어스, 슬리우 레이트 (slew rate) 및 기타 중요한 매개변수와 같은 테스트 매개변수를 제어합니다. 테스터는 테스트 정확도를 향상시키는 Advanced Probing, 전류, 전압, 시간에 대한 장치 특성을 분석하는 Automated Optical Reliability/Fourier Analysis, 테스트 프로그램을 빠르게 개발하거나 기존 기능을 수정하는 Programming Support Tools와 같은 다양한 기능을 제공합니다. PTC (Programmable Test Controller) 는 다양한 장치를 테스트하기 위한 통합 연결 플랫폼을 제공합니다. 즉, 직관적인 GUI (Graphic User Interface) 를 통해 개별 요구 사항에 맞게 장치 테스트 프로세스를 조정할 수 있도록 측정 매개변수와 다양한 스크립팅 옵션을 제어할 수 있습니다. 테스트 가속은 PTC와 함께 제공되는 핵심 기능입니다. 사용자가 신호 매개변수를 빠르고 정확하게 최적화 할 수 있습니다. T5377/75는 모든 유형의 장치에 대한 테스트를 제공합니다. 빠른 처리량과 작은 신호를 측정하는 능력을 갖춘 T5377/75 (T5377/75) 는 연구 개발 응용 프로그램, 실험실 테스트 및 제조 생산에 이상적입니다. 유연한 시스템 아키텍처를 통해 최대 80 개의 테스트 채널을 손쉽게 확장할 수 있습니다. 전반적으로 ADVANTEST T5377/75는 단순화된 장치 테스트 및 특성화에 이상적인 시스템입니다.