판매용 중고 ADVANTEST T 5376 #293738676

ADVANTEST T 5376은 다양한 구성 요소의 초고속 테스트를 위해 설계된 고급 Final Test 장비입니다. DDR, Flash, DRAM, SRAM 및 기타 유형의 반도체 제품에 대한 올인원 자동 테스트 셀입니다. ADVANTEST T5376 장치의 시스템 구성 요소에는 메인프레임, 다중 프레임 제어 장치 (MCU), 테이프 파일 서버 (TFS), 테스트 베드 마스터, Probe 인터페이스 유닛 (PIU) 및 네트워크 인터페이스 유닛 (NIU) 이 포함됩니다. 메인프레임은 SCU (Machine Controller Unit) 와 MMS (Mass Memory Storage) 의 두 부분으로 구성됩니다. Mass Memory Storage에는 테스트 도구를 구성하고 프로그래밍하는 데 사용되는 MCS (Multi-Component Setup) 소프트웨어가 포함되어 있습니다. MCU (Multi-Frame Control Unit) 는 다양한 테스트 침대를 제어하는 데 사용됩니다. 여기에는 3 개의 개별 코어가 포함되어 있으며, 이동, 전원 켜기/끄기, 전류 및 전압 수준, 그리고 연결을 제어하여 컴포넌트의 자동 테스트를 담당합니다. 테스트 베드 마스터 (Test Bed Master) 는 T 5376 자산의 다양한 테스트 베드를 동기화하고 제어하는 데 사용됩니다. MCU에 연결된 PIU 및 Test Bed Master Module과 통신합니다. Probe Interface Unit (PIU) 은 모든 측정을 수집하고 관리하고 테스트 베드와 모델 컨트롤러 사이에 인터페이스를 제공하는 데 사용됩니다. PIU 는 빠른 데이터 처리를 담당하며, 다양한 유형의 Probe 카드를 사용하여 업그레이드할 수 있습니다. NIU (Network Interface Unit) 는 LAN에 연결하는 데 사용되며, 테스트 스테이션과 다른 테스트 시스템 간의 통신을 제공합니다. 마지막으로 TFS (Tape File Server) 가 테스트 스테이션에 연결되어 테스트 결과를 저장할 책임이 있습니다. 요약하자면, T5376 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 구성 요소의 고속 테스트를 위해 특별히 설계된 올인원 (All-in-one) 자동 테스트 셀입니다. 성능은 효율적인 SCU, Multi-Frame Control Unit, Test Bed Master 및 Network Interface Unit을 사용하여 최적화됩니다. 또한, 다른 유형의 Probe 카드를 사용하여 성능을 세밀하게 조정하고 쉽게 업그레이드 할 수 있습니다.