판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9277246
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ID: 9277246
Dual head tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1 -6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B . ...> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXI ST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1
CHILD C,D ....> 1
CHILD E ,F ....> 1
CHILD G,H ....> 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [-64] ...........> 1 -64
PPS CONFIGURATION [1 -256] ..........> 1 -256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1 -64] ...........> 1 -64
PPS CONFIGURATION [1 -256] ..........> 1 -256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0 -16 ] ..........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EX IST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
장점 T 5375 (ADVANTEST T 5375) 는 광범위한 전자 부품을 테스트하기 위해 설계된 강력한 최종 테스트 장비입니다. 개별 컴포넌트 (component) 및 어셈블리 (assembly) 또는 모듈 (module) 에 대한 종합적인 테스트를 수행하는 데 사용할 수 있습니다. 이 시스템은 고속 디지털 오실로스코프, 웨이퍼 프로버, 대량 터미널 스테이션 등 여러 기기로 구성되어 있습니다. 이 장치의 디지털 오실로스코프 (digital oscilloscope) 는 동적 패라메트릭 테스트를 위해 설계되었으며 최대 500MHz의 대역폭을 사용합니다. DM (Direct Memory Access) 기능을 갖춘 고속 데이터 수집 장치에 연결되므로 테스트 중에 데이터가 손실되지 않습니다. 기계는 주파수, 시간 간격, 직사각형 신호, 레벨 설정, 펄스 응답 등 다양한 측정을 수행 할 수 있습니다. ADVANTEST T5375는 웨이퍼 프로버에 연결되어 있으며, 웨이퍼에서 반도체 장치를 자동으로 테스트 할 수 있습니다. 이 도구를 사용하여 사용자는 특정 다이 위치 (die location) 를 측정하거나 장치 경계를 측정할 수 있습니다. 에셋에는 X-Y 드라이브 베이스와 Z축 드라이브 스테이지 (정밀도) 를 포함하는 대량 터미널 스테이션도 장착되어 있습니다. 이를 통해 패키지된 DUT에서 측정하는 동안 높은 수준의 정확도를 얻을 수 있습니다. 이 모델에는 사용 용도로 특별히 설계된 소프트웨어가 포함되어 있으며, 장비, 기기 (instruments) 를 완벽하게 제어할 수 있습니다. 테스트 (test-up), 디바이스 처리 (device handling), 결과 분석 (result analysis) 등 특정 테스트 요구에 맞게 조정된 다양한 기능이 있습니다. 또한 이 소프트웨어는 매우 유연하게 설계되어 다양한 유형의 테스트 프로젝트 (Test Project) 에 대한 고유한 사양에 따라 사용자 정의할 수 있습니다. T 5375 는 다양한 테스트 요구 사항을 충족하며, 최종 테스트를 위한 포괄적인 솔루션입니다. 고급 하드웨어와 소프트웨어를 결합하여, 정확한 측정 및 데이터 수집을 수행할 수 있습니다. 매우 다양한 전자 부품의 무결성 (Integrity) 및 기능을 검증하기 위한 안정적이고 효율적인 시스템입니다.
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