판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9262805
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ID: 9262805
Memory tester
With test head
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24CH HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD
0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375 Final Test Equipment (최종 테스트 장비) 는 집적 회로, 보드 수준 장치 및 테스트 검증이 필요한 구성 요소의 검사 및 검증에 사용되는 안정적이고 효율적인 테스트 시스템입니다. 이 제품은 고정밀도 및 고속 성능을 위한 다양한 옵션을 제공합니다. 테스트 장치는 빠르고, 유연하며, 정확한 장치 테스트를 위한 모듈식 플랫폼을 제공합니다. SOI (Small Outline Transistors), BGA (Ball Grid Array) 및 MLCCS (Multi-Level Chip Scale Packaging) 와 같은 광범위한 기술을 테스트 할 수 있습니다. 또한 모든 진단 유틸리티 및 자동 테스트 기능을 갖추고 있습니다. ADVANTEST T5375는 고속 UIP (Universal Interface Protocol) 로 제작되어 ATE (Automatic Test Equipment), ICT (In-circuit Testing) 장비 및 통합 개발 플랫폼과 같은 다양한 외부 장비와 인터페이스 할 수 있습니다. 또한 성능 최적화를 위해 사용자 지정 가능한 프로브를 제공합니다. 유연한 환경은 HIL (Hardware-in-the-Loop) 및 SIL (Software-in-the-loop) 테스트를 모두 자동화하고 사용자 정의할 수 있습니다. 임피던스 (Impedance) 테테스터 모드는 집적 회로의 고급 기능 및 전기 테스트를 제공합니다. 이를 통해 유연성을 통해 프로브의 주파수, 스윕 시간, 테스트 벡터 및 전압 설정을 조정할 수 있습니다. ATPG (Automatic Test Pattern Generator) 를 사용하면 보다 블랙 박스 수준의 문제 해결을 위해 컴퓨터에 쉽게 로드할 수 있는 맞춤형 테스트 패턴을 생성할 수 있습니다. T 5375에는 기계적 반복성과 정확성을 위해 설계된 유연한 교정 도구가 포함되어 있습니다. 보정 (calibration) 에셋을 사용하여 다양한 테스트 설정의 매개변수를 조정할 수 있습니다. Tester 가 테스트 중인 모든 디바이스에 대해 정확한 결과를 제공하는 데 도움이 됩니다. T5375는 부동 (floating) 전원 공급 장치, 보호 액세서리, 온도 컨투어 및 기타 안전 장치 (safeguard) 와 같은 우수한 안전 측정으로 설계되어 과전압 및 전력 급증 방지 기능을 제공합니다. ADVANTEST T 5375는 Automotive, Mobile Devices, Consumer Electronics, Industrial 및 기타 까다로운 응용 분야와 같은 응용 분야에 대한 모델 레벨 시뮬레이션 및 기능 테스트에 이상적입니다. 안정적인 장치 테스트를 위해 고속 성능과 정확성을 결합합니다. 효율적이고 비용 효율적인 테스트 장비로, 장점 T5375 (ADVANTEST T5375) 는 제조 및 엔지니어가 다양한 테스트 어플리케이션을 위해 널리 사용되었습니다.
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