판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9199877

ADVANTEST T 5375는 반도체 장치에 대한 장애 진단 및 진단 후 테스트를 수행하는 데 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 시스템은 고속 및 저전력 데이터 전송 장치 (LP) 를 사용하여 장치의 성능을 빠르고 정확하게 진단합니다. 장점 T5375는 CMOS, 양극성, BISMOS, Full Diode, Half Diode 및 Low Power MOSFET과 같은 다양한 유형의 반도체에 대한 실패 진단 테스트 라이브러리로 구성됩니다. 또한, 이 기계는 특수 목적 장치에 대한 사용자 정의 테스트 알고리즘을 지원합니다. T 5375는 또한 실리콘 레벨 ATE, 엔지니어링 개발 키트, 회로 내/기능 테스트와 같은 테스트 가능성 응용 프로그램을 위한 설계도 지원합니다. 이 도구에는 성능 기반 테스터 (Performance Driven Tester) 와 칩의 테스트 실행을 위한 통합 펌웨어 및 라이브러리 (Integrated Firmware and Library) 가 포함되어 있습니다. T5375에는 각각 2.5Gbps 신호 용량을 가진 최대 8개의 I/O 포트가 있습니다. 이 자산은 여러 보드에서 최대 1,600 핀의 병렬 테스트를 제공합니다. ADVANTEST T 5375는 오류 플래그를 지정하고 장애 정보에 대한 자세한 분석을 제공하는 고급 장애 감지 (fault detection) 및 분석 모델을 제공합니다. 이 장비에는 여러 가지 내장 프로그래밍 가능한 비전, 자동 초점 및 에지 감지 카메라 기능이 포함되어 있습니다. 따라서 이미지 기반 장애 진단을 통해 엔지니어가 신속하게 진단, 오류를 수정하고 수율을 늘릴 수 있습니다. 이 시스템은 또한 자가 보정 (self-calibrating) 기능을 통해 엔지니어가 감지 및 테스트 수준을 빠르고 쉽게 조정할 수 있습니다. 또한, 테스트 신호가 영향을 받지 않도록 노이즈를 방지하는 Gndshield 기능을 제공합니다. 장점 T5375는 쉽게 업그레이드할 수 있으며 라이브 펌웨어 업데이트를 지원합니다. T 5375에는 큰 LCD 터치 스크린과 그래픽 메뉴 기능이 있는 사용자 친화적 인 인터페이스도 있습니다. 이 화면에서는 디바이스 매개변수 (device parameter) 와 테스트 결과 (testing result) 를 시각화할 수 있으며, 설계자에게 디바이스 및 해당 작업에 대한 포괄적인 뷰를 제공합니다. 전반적으로, T5375 는 다양한 반도체 장치의 문제를 해결하고 진단할 수 있는 다양한 기능과 기능을 제공하는 다목적 (VTL (Final Test Unit) 입니다. 사용이 간편한 그래픽 인터페이스, 고급 장애 감지 및 분석 기능, 소음 차폐 (noise shielding) 기능을 갖춘 ADVANTEST T 5375는 반도체 장치에 강력하고 안정적인 Final Test Machine을 필요로 하는 모든 엔지니어에게 적합한 제품입니다.