판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9181104
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ID: 9181104
Memory tester
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5375는 정교한 반도체 장치 생산에 사용하도록 설계된 고성능 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 멀티 사이트 자동 처리기, 테스터 및 열 충격 챔버 (thermal shock chamber) 를 사용하여 패키지 및 베어 다이 집적 회로에 대한 종합적인 테스트를 수행 할 수 있습니다. ADVANTEST T5375는 단일 장치의 디지털, 혼합 신호, 아날로그 테스트 형식의 전체 테스트 기능을 지원합니다. 전체 벡터 디지털 테스트 기능은 JTAG, IEEE 1149.1 및 IEEE 1149.6 프로토콜을 지원하는 벡터 스텝 프로그래밍 가능 메모리 유닛에서 제공합니다. 혼합 신호 기능은 독점적 인 동적 파라 메트릭 테스트 머신을 갖춘 아날로그/혼합 신호 테스터 (analog/mixed-signal tester) 에 의해 제공되며, 이를 통해 고속 아날로그 및 디지털 테스트가 가능합니다. 이 도구는 자산 내 프로그래밍 및 성능 검증도 지원합니다. T 5375 는 다양한 자동 테스트 기능을 갖춘, 사용자에게 친숙한 그래픽 운영자 인터페이스를 제공합니다. 이 인터페이스를 사용하면 고객의 운영 제품군 및 외부 데이터베이스 시스템 (예: 프로세스 제어, 진단 시스템) 과 원활하게 통합할 수 있습니다. 유연한 테스트 스케줄링, 전체 매개 변수화, 다중 테스트 프로그램, 데이터 로깅, 실시간 보고 및 추세 분석, 맞춤형 데이터 프레젠테이션/보고, 다양한 매개 변수 리콜 등을 지원합니다. 또한 T5375 에는 다중 사이트 자동 핸들러 (Automatic Handler) 가 장착되어 테스트 대상 장치의 여러 구성을 신속하게 설정하고 처리할 수 있습니다. 이 처리기는 트레이 당 최대 160 개의 장치로 최대 3.2mm 크기의 베어 다이를 처리 할 수 있습니다. 또한 칩, 프레임, 보드 및 고정장치 처리에서 고정밀 조립 및 장착 작업을 지원합니다. 장점 5375 (ADVANTEST T 5375) 에는 다양한 온도에서 장치를 테스트 할 수있는 자동 열 충격 챔버가 있습니다. 챔버 (Chamber) 는 고급 멀티 프로그래밍 기능을 갖추고 있으며, 쉽게 검색할 수 있도록 최대 32 개의 테스트를 프로그래밍하고 저장할 수 있습니다. 이 기능을 통해 자동차, 의료, 항공 우주 및 기타 극심한 온도 환경에서 사용할 수 있도록 IC 의 빠르고 강력한 성능 테스트를 수행할 수 있습니다. 전반적으로 ADVANTEST T5375 는 집적 회로 (integrated circuit) 테스트를 위한 포괄적이고 자동화된 솔루션으로, 광범위한 테스트가 필요한 기업에게는 탁월한 옵션입니다. 이 최종 테스트 모델은 광범위한 기능 목록으로, 반도체 소자 생산에 이상적인 선택입니다.
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