판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9179865
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ID: 9179865
Memory tester
Pin: 2048DR+1280 I/O(Full)
Single head
DC: 1-36CH
PPS: 1-256CH
AC Frequency: 60Hz
Flash option: No
FMRA: No
PM Board: No
System configuration generate
Configuration of test head
Pin configuration 1. 512DR+ 320I/O(Quarter)
2.1024DR+ 640I/O(Half)
3.1536DR+ 640I/O(Full)
4.2048DR+ 640I/O(Full)
5.1536DR+1280I/O(Full)
6.2048DR+1280I/O(Full) [1-6] ...> 6
Number of test head [1,2] ...........................> 1
Configuration of test head 1
PE Board 0. Not exist
1. Exist
DR Pin 1A1 1A5 17A1 25A1
Child A,B ....> 1 1 1 1
Child C,D ....> 1 1 1 1
Child E,F ....> 1 1 1 1
Child G,H ....> 1 1 1 1
IO Pin 33A1 97A1 33A5 97A5
Child A,B ....> 1 1 1 1
Child C,D ....> 1 1 1 1
Child E,F ....> 1 1 1 1
Child G,H ....> 1 1 1 1
Configuration of DPU
Test head 1 DC Configuration [1-64] ...........> 1-64
PPS Configuration [1-256] ..........> 1-256
AC Frequency (Hz) [50,60] ........................> 50
Configuration of FTU
Flash option [Y,N] ...........................> No
Configuration of FM
Number of FMRA board [0-16] ..........................> 0
PM(Pattern memory) board exist [Y,N] .................> No
Configuration of MRA
MRA4 Exist [Y,N] .....................................> No
End save.
ADVANTEST T 5375 Final Test Equipment는 테스트 기술의 최신 향상을 기반으로 하는 고속, 풍부한 기능의 웨이퍼 테스트 시스템입니다. 고성능 어플리케이션을 위한 탁월한 테스트 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 장치는 다양한 전자 부품과 호환되는 완전 자동 하이엔드 테스터 (High-End Tester) 를 갖추고 있습니다. 여기에는 마이크로 프로세서, 메모리 칩, 아날로그 및 전원 구성 요소가 포함됩니다. 이 기계는 28 핀 멀티 사이트 테스트 프로그래머블 로직 옵션과 함께 실시간 결과 피드백과 결합된 고급 테스트 프로세스를 사용합니다. 장점 T5375는 분산 네트워크 아키텍처를 사용하여 데이터, 구성 및 프로그램 실행을 관리합니다. 이 아키텍처는 모든 테스트 노드 (test node), 디바이스 (device) 및 기타 구성 요소가 동기화되어 최고의 데이터 정확도와 테스트 속도를 제공합니다. 또한 다중 사용자, 다중 사이트 기능을 통해 운영 속도를 높일 수 있습니다. 이 자산에는 멀티 사이트, 자동 로드 및 언로드 기능도 있습니다. 이 기능은 수작업 비용 절감, 데이터 입력 오류 감소, 테스트 처리량 향상 등을 지원합니다. 이 모델은 또한 고속 데이터 전송뿐만 아니라 전체 DFT 적용 범위를 제공합니다. 또한, 장비는 여러 메모리 테스트를 동시에 실행하는 한편, 테스트 순서를 우선시합니다. 또한, 시스템에는 디지털 진단 모드 (Diagnostics Mode) 가 포함되어 있어 문제 해결, 근본 원인 분석, 빠른 디버그 기능을 지원합니다. 이 기능은 디버깅 시간을 줄이고, 문제가 발생할 때 다운타임을 줄이는 데 도움이 됩니다. 또한, 이 장치에는 제조 중 발견 된 결함에 대한 추적 기능을 제공하는 결함 감지 (defect detection) 및 주소 확인 기능도 포함되어 있습니다. 이 시스템에는 효과적인 진단 및 화면 디스플레이 (Visual Screen Display) 기능과 원격 모니터링 기능도 있습니다. 이를 통해 다른 시스템에 실시간으로 접속하여 즉각적인 피드백을 받을 수 있습니다. 이 도구에는 자동 보정 및 장치 프로그래밍을 포함한 고급 하드웨어/소프트웨어 자동화 기능도 있습니다. 이를 통해 자산을 개별 운영 애플리케이션 요구에 맞게 조정할 수 있습니다. 전반적으로 T 5375 Final Test Model 은 빠르고 효율적이며 자동화된 테스트를 필요로 하는 고성능 애플리케이션에 이상적인 테스트 솔루션입니다. 또한 수작업 비용 절감, 디버그 시간 단축, 운영 프로세스 속도 향상에 도움이 되는 고급 (Advanced) 기능을 제공합니다. 모든 HI (High Throughput) 애플리케이션에 적합한 안정적이고 풍부한 기능을 갖춘 테스트 솔루션입니다.
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