판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #9166525

장점 T 5375 (ADVANTEST T 5375) 는 칩 생산 프로세스에 사용된 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 로, 완성된 칩의 기능을 보장하며 고객의 요구 사항을 충족합니다. 이 제품은 대규모 웨이퍼 프로버 (wafer prober) 에 사용되며, 짧은 시간 내에 엄청난 양의 칩을 테스트 할 수 있습니다. 이 시스템에는 강력하고 다양한 테스트 기능이 있어 SRAM, DRAM, Flash 등의 대용량 메모리 장치를 쉽게 테스트할 수 있습니다. 장점 T5375에는 향상된 테스트 제어 아키텍처, 신뢰성 높은 프로그램을 위한 테스트 액세스 시스템, 자동 테스트 패턴 생성 (Test Pattern Generation) 기능이 포함되어 있습니다. 또한 결과 분석 기능을 통합하여 다양한 문제에 대한 테스트 결과를 평가할 수 있습니다. 학습이 간편한 인터페이스를 통해 신속한 채택이 가능하며, 또한 엔지니어가 테스트 프로세스를 구체화하고 최적화하는 데 사용할 수 있는 귀중한 테스트 (test) 데이터를 얻을 수 있습니다. T 5375 에는 다양한 테스트 요구 사항을 충족하는 강력한 하드웨어 기능이 탑재되어 있습니다. 이 장치에는 8 채널, 64 비트 오픈 MCTest 인터페이스가 포함 된 고속 NWT (No-Wait Time) 메자닌 카드와 여러 칩의 빠른 병렬 액세스를 위한 AHT (Advanced Hardware Trigger) 머신이 포함되어 있습니다. 와퍼 테스트 시간. 또한 고급 DSP 카드, 제어 장치용 603PPC FPGA (Field-Programmable Gate Array) 및 모든 메모리 장치를위한 SRAM 장치 인터페이스를 포함하는 고급 메모리 카드 아키텍처를 사용합니다. 또한 T5375 는 고정밀도, 선형 포지셔닝 기술을 활용하여 테스트 과정에서 위치를 정확하게 제어할 수 있습니다. 이 기술을 통해 Probe의 정확한 정렬 및 위치를 지정하여 안정적인 Wafer 정렬을 보장합니다. 게다가, ADVANTEST T 5375 는 프로세스 변형을 관리하고 다양한 제품과 프로세스에 대한 최소한의 변동 (variability) 을 통해 정확한 테스트 결과를 제공하기 위해 쉽게 프로그래밍 될 수 있습니다. 또한, ADVANTEST T5375에는 테스트 설정 및 프로그래밍을 쉽게 처리할 수 있도록 실시간 JTAG 지원을 포함한 포괄적인 테스트 환경 관리 기능이 포함되어 있습니다. 테스트 환경에는 자동 test-parameter-checking 및 test-result-based-parameter-tuning이 장착되어 있어 각 칩이 동일한 매개변수로 테스트되도록 합니다. T 5375 는 여러 샘플에 대해 동시에 테스트 (test) 를 실행하여 처리량과 생산성을 극대화할 수 있습니다. 전반적으로, T5375는 정확한 테스트 결과를 보장하고, 각 칩이 고객 요구 사항을 충족하는지 검증하는 강력하고 안정적인 Final Test Tool입니다. 다양한 기능 세트와 고급 기능을 통해 칩 제조업체는 속도, 효율, 테스트 정확도를 극대화할 수 있습니다. 오늘날 경쟁력 높은 시장에서 품질 (Quality) 제품을 제공하기 위한 완벽한 솔루션입니다.