판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #293832146

ADVANTEST T 5375는 고속 디지털 IC 테스트를 수행하는 데 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 메모리, 마이크로 컨트롤러, DSP, 게이트 어레이, 프로세서 및 ASIC 장치를 포함한 다양한 장치 아키텍처를 위해 설계되었습니다. 이 시스템은 타입 VII 테스터 아키텍처 (Type VII tester architecture) 를 50MHz 내부 클럭으로 사용하여 연결 및 신호 검증 시 최대 정확성을 보장합니다. 이 장치에는 3 개의 채널이 장착되어 있으며, 각 채널에는 최대 24 개의 개별 장치를 수용하도록 독립적으로 구성 할 수 있습니다. 이러한 채널은 고속 테스트 헤드로 구성되며, 초당 최대 4.4GHz (에지 수) 까지 가능합니다. 연결 채널은 또한 여러 개의 테스트 시퀀스를 동시에 실행할 수있는 멀티 코어 프로세서 인 메인 CPU (main CPU) 에 연결됩니다. 이 기계는 또한 정확한 타이밍 및 측정에 고성능 DSP (Digital Signal Processor) 를 사용합니다. 다양한 자동화 도구를 ADVANTEST T5375에 사용할 수 있습니다. 여기에는 내장 핀 매퍼, 튜닝 기능, 오프라인 프로그래밍 도구 및 다양한 장치 설정 도구가 포함됩니다. 이 도구에는 온보드 병렬 에뮬레이션 및 개별 래치 관리자 도구도 포함됩니다. 이 자산을 다양한 타사 툴 (예: 테스트 관리 시스템, 장애 적용 범위 분석, 테스트 최적화 소프트웨어) 과 함께 사용할 수도 있습니다. T 5375 는 모든 테스트 신호에 대한 실시간 장애 분석 (real-time failure analysis) 을 통해 다양한 수준의 테스트 적용 범위를 제공합니다. 이를 통해 장치 성능 및 산출 특성에 대한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 이 모델은 또한 여러 테스트 시퀀스의 동시 실행을 허용하며, 데이터는 모든 테스트에서 실시간으로 캡처됩니다. 즉, 동일한 디바이스를 여러 번 재테스트할 필요 없이 새로운 테스트를 실행할 수 있도록 장비를 재프로그래밍할 수 있으므로 효율성 향상 (Enhroved efficiency) 이 향상됩니다. T5375 는 매우 효과적인 최종 테스트 시스템으로, 고속 디지털 IC 에 대한 광범위한 테스트 기능을 제공합니다. 사용 및 구성이 용이하며, 안정적이고 반복 가능한 결과를 제공합니다. 자동화된 기능과 실시간 장애 분석 (Real Time Failure Analysis) 기능을 통해 디바이스 품질과 신뢰성을 보장할 수 있는 귀중한 툴입니다.