판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #293816394

장점 T 5375 (ADVANTEST T 5375) 는 반도체 제조업체가 다양한 제품을 테스트하여 품질과 성능을 보장하는 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 제품에 대한 효율적이고 정확한 테스트를 수행할 수 있는 강력한 툴입니다 (영문). 장점 T5375는 고성능, 유연성, 호환성 및 확장성을 제공하는 PXIe 플랫폼을 기반으로 합니다. 다양한 성능 향상 기능을 갖춘 모듈식 (modular) 설계를 통해 여러 애플리케이션의 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이 시스템은 다양한 I/O 및 Probing 기술과도 호환되며, 광범위한 제품을 수용할 수 있습니다. T 5375 는 고속 데이터 수집 컨트롤러와 다중 신호 생성기 (signal generator) 를 결합한 강력한 아키텍처를 갖추고 있습니다. 컨트롤러는 다양한 제품에서 매우 빠른 속도로 데이터를 수집하고, 실시간으로 데이터를 분석할 수 있습니다 (영문). 또한 운영자는 개별 제품에 대한 테스트 프로그램을 빠르고, 쉽게 만들고, 수정할 수 있습니다. 이 장치에 포함된 다중 신호 생성기 (multiple signal generator) 는 여러 제품을 테스트하는 데 필요한 광범위한 파형을 제공합니다. 이 기계는 또한 다양한 확장 가능하고, 교환 가능한 소프트웨어 옵션을 장착 할 수 있습니다. 이러한 옵션에는 장치 드라이버 라이브러리, 매개변수 및 진단 도구 세트, 자동 보고서 생성기 등이 있습니다. 장치 드라이버 라이브러리를 사용하면 원활하게 통합하여 setup, test, parameterization, data analysis 등의 기본 작업을 수행할 수 있습니다. 이 도구에는 고급 장애 분석 자산 (Fault Analysis Asset) 이 장착되어 있어 테스트 프로세스 동안 제조가 잠재적 결함을 식별할 수 있습니다. 이 모델은 또한 제품의 잠재적 결함을 정확하게 파악하는 포괄적인 결함 분석 (fault analysis) 보고서를 제공합니다. T5375 는 대용량 반도체 생산의 요구를 충족할 수 있도록 설계된 고가용성 (HA), 고도로 구성이 가능한 최종 테스트 장비입니다. 모듈식 설계, 고속 데이터 획득 기능, 다중 신호 생성기, 확장 가능한 소프트웨어 옵션 및 고급 장애 분석 시스템 (Fault Analysis System) 이 있습니다. 이 모든 기능을 통해 유닛은 다양한 제품을 테스트할 수 있으며, 장애를 신속하고 효율적으로 파악하고 진단하고, 포괄적인 테스트 보고서를 생성할 수 있습니다 (영문).