판매용 중고 ADVANTEST T 5375 #162944

ADVANTEST T 5375
ID: 162944
Memory test system CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER) 2.1024DR+ 640I/O(HALF) 3.1536DR+ 640I/O(FULL) 4.2048DR+ 640I/O(FULL) 5.1536DR+1280I/O(FULL) 6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CHILD E,F ....> 1 1 1 1 CHILD G,H ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64 PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64 PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16 SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1 TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1 CONFIGURATION OF MRA MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375는 반도체 테스트 솔루션의 글로벌 리더 인 ADVANTEST Corporation이 개발 한 통합 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 최신 SIP (Silicon Test Platform) 기술을 기반으로 다양한 마이크로프로세서, 메모리, 논리 장치에 대한 광범위한 테스트 요구 사항을 충족하는 유연하고 비용 효율적인 기능을 제공합니다. 장점 T5375 에는 메인프레임 (Mainframe) 과 다양한 카트리지 (Cartridge) 가 포함되어 있어 다양한 장치를 지원할 수 있습니다. 메인프레임은 Windows 기반 GUI 유닛과 PXI 기반 분산 계측 시스템을 포함한 2 개의 호스트 컴퓨터 시스템으로 구성됩니다. 따라서 구성, 데이터 수집 등 모든 Testing 작업을 호스트 레벨로 제어할 수 있습니다. 또한 T 5375에는 고속, 저전압, 표준 테스트 및 번 인 (burn-in) 작업을 지원하는 여러 통합 테스트 인터페이스가 있습니다. T5375 도구는 여러 가지 테스트 기기와 기술을 사용합니다. 이 자산에는 포괄적인 장애 적용 범위를 제공하는 통합 모델 레벨 테스트가 있습니다. 테스트 장비는 SIP (High Pin Count Device) 테스트를 지원하도록 최적화된 SIP 아키텍처를 기반으로 합니다. 여기에는 저전압 테스트, 번인 테스트, 프로브 및 액세서리가 포함됩니다. 이 시스템은 고전압 테스트, 클럭 소스, 패드 프로그래밍 가능 테스트 (pad programmable) 및 독점 테스트 (proprietary test) 와 같은 여러 유형의 테스트를 수행하도록 프로그래밍 될 수 있습니다. 이 장치에는 디버깅 목적으로 프로그래밍 가능한 오실로스코프 (oscilloscope) 와 같은 여러 가지 추가 기능이 포함되어 있습니다. 또한 ADVANTEST T 5375 는 데이터 수집 및 분석 기능을 통합하여 테스트 데이터를 실시간으로 생성, 분석할 수 있습니다. 따라서 Failed (고장난) 및 Liminal (한계) 디바이스 성능의 근본 원인을 신속하고 정확하게 파악할 수 있으므로 불필요한 수리 횟수를 줄이고 현장 수율을 향상시킬 수 있습니다. ADVANTEST T5375는 다양한 마이크로 프로세서, 메모리 및 논리 장치에 대한 고급 테스트 솔루션입니다. 고급 기능, 통합형 시스템 수준 테스트/디버깅 (Debugging) 기능을 통해 모든 반도체 테스트 요구를 충족하는 강력하고 경제적인 솔루션입니다.
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