판매용 중고 ADVANTEST T 5372 #9011379

ADVANTEST T 5372
ID: 9011379
Testers Configuration: SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1. 512DR+320I/O(HALF) 2.1024DR+640I/O(FULL) [1-2] ...> 2 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 PE BOARD 0.NOT EXIST 1. EXIST DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5 CHILD A,B ....> 1 1 1 1 CHILD C,D ....> 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8 SIZE OF FMRA BOARD [1:8G,2:16G] ....................> 2 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 2 CONFIGURATION OF MRA MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> YES RCPU STN1 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES RCPU STN2 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES END SAVE.
ADVANTEST T 5372는 현대 반도체 생산의 엄격한 요구를 충족하도록 설계된 다목적 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 입니다. 이 시스템은 자동차, 통신, 가전 제품, 기타 신흥 애플리케이션 (emerging application) 과 같은 애플리케이션에 사용되는 매우 빠른 속도와 매우 민감한 장치를 모두 테스트할 수 있습니다. 탁월한 성능, 유연성, 신뢰성을 자랑하는 최고 수준의 테스트 성능을 제공합니다. ADVANTEST T5372에는 강력한 테스트 헤드 컨트롤러와 분산 암 아키텍처가 장착되어 있습니다. 테스트 헤드 컨트롤러는 장치 관리 기능을 수행하기 위해 Windows 기반 PC를 사용하며, 분산 암 아키텍처는 최대 5 개의 testhead를 지원합니다. 이 설정을 통해 사용자는 특정/변화하는 테스트 요구를 충족하도록 시스템을 구성할 수 있습니다. 예를 들어, 사용자는 신호 라우팅 및 멀티플렉서를 사용하여 여러 testhead 컨트롤러를 구성할 수 있으므로, 효율적인 높은 테스트 리소스 활용도를 얻을 수 있습니다. T 5372는 자동 테스트 기능도 제공합니다. 테스트 시퀀싱, 테스트 매개변수 선택 및 테스트 결과 관리를 자동화할 수 있습니다. 다중 테스트 헤드 (test head) 구성으로 여러 사이트를 제어할 수 있으며, 수동, 반자동 또는 완전 자율 (fully autonomous) 테스트 모드에서 실행할 수 있습니다. 또한, 이 도구에는 웨이퍼 레벨 정보를 추적하기 위한 바코드 리더기 (barcode reader) 가 장착되어 있으므로 여러 장치를 쉽게 추적할 수 있습니다. 또한 오실로스코프, 전원 공급 장치, 스캔 테스터 등 다양한 테스트 기기를 제어 할 수 있습니다. 이 자산은 안정적이고 반복 가능한 고품질 테스트를 제공하도록 설계되었습니다. 가장 일반적으로 사용되는 두 가지 인터페이스 프로토콜 (SPI 및 JTAG) 을 지원하여 반도체 장치에 대한 향상된 테스트 범위를 제공합니다. 또한 물리적 디바이스 상태를 감지하여 장애 진단을 개선할 수 있습니다. 또한 HiPot, 회로 내 기능 테스트, 외부 장치 보호/회로 테스터 (external device protection/circuit tester) 등 사용자의 모든 테스트 요구를 다룰 수 있는 다양한 테스트 기술을 제공합니다. T5372는 최종 테스트를 위한 뛰어난 솔루션입니다. 최신 프로덕션 환경에서 최고 수준의 품질 테스트 (Quality Testing) 를 제공하는 데 적합한 성능, 유연한 아키텍처, 정교한 테스트 기능을 제공합니다.
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