판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9250314
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ID: 9250314
Memory tester
CPU Type: SPARC
Compressed air consumption: 5-10 Nl/min
Compressed air requirement: 0.49-0.69 MPa
Power consumption: 13 kVA
Power requirement: 200 VAC, 3 Phase
Product / P/N / Revision / Title
ASXUBASE / PASX51-70**** / 2.03 / SunOS Release 5.7
ATW51SU / PASX51-70**** / 6.03-1 / ATLworks for T5500 Series
DIAG5371SU / PASX51-70**** / 1.03A1 / Tester Diagnosis (T5371)
SYSTEST51SU / PASX51-70**** / 6.03-4 / ADI/SYS TEST (T5581 Series)
TESTUTL51SU / PASX51-70**** / 6.03-2 / Tester Utilities (T5581 Series)
WBMA51SU / PWBM51-00**** / 5.04 / Workbench-M2 for T5500 Series (Analysis Tools)
XATL51SU / PXTL51-36**** / 3.02-2 / XATL/U-51 Cross Compiler
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD:
PIN CONFIGURATION
1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE
0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 1
NUMBER OF AFM BOARD [0-8] ............................> 4
SIZE OF AFM BOARD [1:1G, 2:4G] .....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1.
ADVANTEST T 5371은 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 장치의 자동 테스트에 사용할 수있는 고성능 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 입니다. 이 제품은 하이핀카운트 (High Pin-Count), 플립 칩 (Flip Chip) 과 같은 복잡한 구성을 테스트할 수 있는 비용 효율적인 솔루션을 제공하며, 광범위한 애플리케이션을 위한 안정적인 테스트 솔루션도 제공합니다. 이 시스템은 강력한 하드웨어 아키텍처 (Powerful Hardware Architecture) 를 기반으로 하며, 모듈식 레이아웃을 통해 장치를 설치 및 구성할 때 유연성이 향상됩니다. 테스트 일정 및 처리 데이터를 제어하는 32 비트 RISC 프로세서, 프로그래밍 가능한 DRAM, 최대 8 개의 독립 DC 소스 제어 기능 등 다양한 리소스를 갖추고 있습니다. 또한 빠른 테스트 구성을 위한 인스턴트 온 (instant-on) 기능, 더 빠른 테스트를 위한 자동 조정 기능, 테스트 매개변수에 대한 정확한 제어가 필요한 응용 프로그램을 위한 통합 릴레이 인터페이스 (integrated relays interface) 등 다양한 추가 기능이 포함되어 있습니다. ADVANTEST T5371은 제공되는 IEEE-488, RS232 및 이더넷 인터페이스를 사용하여 다른 테스트 장비, 산업 및 실험실 자동화 소프트웨어와 완벽하게 통합 할 수 있습니다. 또한 이진/DECY, 이진/JANACY, IDF 및 EPC와 같은 통신 프로토콜도 지원합니다. 테스트 설정 (Test Setup) 영역에서 T 5371은 효율적인 전원 공급 장치 측정, 측정 조건 설정, 장치 매개변수 조정 등을 제공합니다. 또한 테스트 시퀀스와 강력한 원격 제어 (remote control) 기능을 사용하여 테스트 설정 및 검증을 자동화할 수 있습니다. 따라서 복잡한 테스트 작업을 독립적으로 자동으로 수행할 수 있습니다. 환경 테스트 (온도, 습도, 빛, 소음, 진동) 는 제공된 테스트 비품을 사용하여 제어 방식으로 수행 할 수 있습니다. 여기에는 Igloo, 진동 테이블, 온도 조절 인클로저 및 온도 챔버가 포함됩니다. 또한 향상된 장치 보호를 위해 Honeywell 제어 도구와 자동 냉각 팬이 포함되어 있습니다. T5371 에셋에는 광범위한 온라인 도움말 모델이 지원하는, 사용하기 쉬운 사용자 메뉴 인터페이스가 자세히 포함되어 있습니다. 이를 통해 장비를 쉽게 조작하고 필요한 작업을 수행할 수 있습니다. ADVANTEST T 5371은 테스트에서 높은 정확성과 반복 성을 제공하면서 다양한 유형의 디지털, 아날로그, 혼합 신호 장치를 처리 할 수 있습니다. 테스트 시스템은 멀티 사이트 테스트 (multi-site testing) 도 지원하므로 여러 장치에서 동시에 테스트를 수행할 수 있습니다. 전반적으로, ADVANTEST T5371 Final Test Unit은 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 장치의 자동 테스트 및 검증을 위해 안정적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 모듈식 (modular) 설계는 시스템 구성 및 설정 시 유연성이 향상되는 반면, 강력한 하드웨어 아키텍처와 다양한 내장 (based-in) 기능을 통해 실험실과 프로덕션 환경 모두에 적합한 옵션을 선택할 수 있습니다.
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