판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9189096
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ADVANTEST T 5371은 반도체 장치의 대량 생산 및 테스트 확인을 위해 ADVANTEST Corporation에서 개발 한 고속 최종 테스트 장비입니다. 칩 및 집적 회로, PBGA (플라스틱 볼 그리드 어레이) 및 CSP (칩 스케일 패키지) 에 대한 테스트를 효율적으로 수행합니다. 이 시스템은 칩 테스트 프로세스 (chip testing process) 를 포괄적으로 자동화하면서 비용 효율성이 매우 높도록 설계되었습니다. ADVANTEST T5371은 2축 처리기, 여러 단계의 테스트 장비 및 테이프 출력 구성 요소 트레이로 구성됩니다. 2 축 핸들러 (2 축 핸들러) 는 임베디드 컨트롤러로 제어되는 로봇 암으로, 급지대에서, 테스트 유닛의 다양한 단계를 거쳐, 트레이로 돌아가는 집적 회로 패키지를 조작하는 데 사용됩니다. 기계의 다양한 테스트 장비 단계에는 IC 테스터, 와이어 본드 테스터 및 비전/자동 검사 도구가 포함됩니다. 이들은 모두 호스트 컴퓨터에 연결되어 있으며, 모두 특화된 데이터 (specialized data) 와 테스트 (test) 소프트웨어에 의해 제어됩니다. T 5371 은 광 (optical) 및 힘 (force) 측정과 함께 다양한 센서를 장착하여 처리 중인 패키지의 적절한 정렬, 테스트 단계에 제품 삽입 (insertion) 의 정확성을 보장합니다. 또한 멀티 사이트 동기화 테스트 (Multi-Site Synchronization Test) 기능을 통해 여러 장치를 동시에 테스트할 수 있으며, 고속 소켓 (Socketing) 자산을 통해 다운타임을 줄이고 테스트 처리량을 향상시킬 수 있습니다. 이 모델에는 고급 주기 (advanced cycle time) 및 테스트 헤드 구성 배열도 있습니다. 이 장비는 병렬로 최대 48 핀을 테스트할 수 있으며, 핀당 초당 최대 3 개의 테스트를 수행 할 수 있습니다. 35 나노 초 (Nanosecond) 반응 시간은 가장 빠르며, 핀 수가 많고 핀 기능이 높은 장치의 경우에도 시장에서 가장 높은 처리량을 제공합니다. 이 시스템은 또한 높은 수익률과 경쟁사 중 가장 높은 거짓 경보 율 (false-alarm rate) 을 자랑합니다. T5371은 반도체 장치의 대량 생산 및 테스트 검증을위한 효율적이고 비용 효율적인 최종 테스트 유닛입니다. 주기 시간 (cycle time) 과 빠른 테스트 반응 시간 (fast test reaction time) 을 대폭 향상시켜 테스트 및 어셈블리 프로세스와 관련된 비용을 절감할 수 있습니다. 빠른 테스트 기능, 다중 단계 테스트 구성, 고성능 (HPT) 등으로 반도체 업계의 엄격한 요구 사항을 충족할 수 있습니다.
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