판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9173456

ADVANTEST T 5371
ID: 9173456
빈티지: 2001
Memory testers SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF) 2. 768DR+512I/O(FULL) 3. 960DR+640I/O(FULL) 4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE BOARD TYPE 0.NO BOARD 1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP) 2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP) PIN 1 13 25 CHILD A1 ....> 1 1 1 CHILD A3 ....> 1 1 1 CHILD B1 ....> 1 1 1 CHILD B3 ....> 1 1 1 CHILD C1 ....> 1 1 1 CHILD C3 ....> 1 1 1 CHILD D1 ....> 1 1 1 CHILD D3 ....> 1 1 1 CHILD E1 ....> 1 1 1 CHILD E3 ....> 1 1 1 CHILD F1 ....> 1 1 1 CHILD F3 ....> 1 1 1 CHILD G1 ....> 1 1 1 CHILD A1 ....> 1 1 1 CHILD A3 ....> 1 1 1 CHILD B1 ....> 1 1 1 CHILD B3 ....> 1 1 1 CHILD C1 ....> 1 1 1 CHILD C3 ....> 1 1 1 CHILD D1 ....> 1 1 1 CHILD D3 ....> 1 1 1 CHILD E1 ....> 1 1 1 CHILD E3 ....> 1 1 1 CHILD F1 ....> 1 1 1 CHILD F3 ....> 1 1 1 CHILD G1 ....> 1 1 1 CHILD G3 ....> 1 1 1 CHILD H1 ....> 1 1 1 CHILD H3 ....> 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU 1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF FTU FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FM TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2 NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8 SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1 PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1 END SAVE 2001 vintage.
ADVANTEST T 5371은 최종 테스트 장비로, 주로 장치 특성화 및 테스트에 사용됩니다. 이 시스템은 장치 DC 측정, 아날로그/디지털 테스트, 장치 모델링, 항복 분석, 고장 분석 등 테스트 매개변수 스펙트럼을 포괄하는 다양한 측정 값을 제공합니다. ADVANTEST T5371 장치의 기능에는 고급 장치 분석 모듈 (Advanced Device Analysis Module) 이 포함되어 있으며, 이 모듈은 아날로그 및 디지털 장치의 특성화를위한 측정 도구와 기술을 제공합니다. 이를 통해 패턴 인식, 펄스 응답, 슬리브 속도 제어, 스펙트럼 분석, 눈 다이어그램 측정 (eye diagram measurement), 자동 비트 오류 속도 테스트 (automated bit error rate testing) 등 다양한 도구를 사용하여 광범위한 장치 기능을 테스트하고 확인할 수 있습니다. 이 기계는 또한 단편, 개방, 전압 불규칙, IR 드롭 등 장치 장애를 감지, 특성 지정, 격리하는 데 사용되는 포괄적인 장애 분석 모듈을 특징으로합니다. 따라서 디바이스 장애를 신속하고 효과적으로 조사, 진단 및 수정할 수 있습니다. 또한, 이 툴은 강력한 장치 모델링 모듈 (device modeling module) 을 제공하여 테스트 대상 디바이스의 동작을 분석할 수 있으며, 이 디바이스의 설계 및 상대 성능에 대한 중요한 정보를 제공합니다. 특히 실패 분석 (Failure Analysis) 작업에 유용합니다. 즉, 세부 측정을 수행하기 전에 문제 영역을 신속하게 파악할 수 있습니다. T 5371 에는 항복 분석 모듈 (yield analysis module) 도 포함되어 있는데, 이 모듈은 테스트 결과를 분석하고 장치 항복에 대한 자세한 정보를 제공하는 데 사용됩니다. 여기에는 수율 추세, 이동/이동 안 함 (Go/No-Go) 테스트 결과 및 최고 성능 지표에 관한 데이터가 포함됩니다. 이 메트릭을 사용하면 모든 수율 문제를 정확하게 파악하고 해결하여 전체 디바이스 품질을 높일 수 있습니다 (영문). 마지막으로, T5371 은 유연성이 뛰어난 자산으로, 확장 가능한 아키텍처를 통해, 특정 요구 사항에 맞게 모델을 손쉽게 통합, 확장할 수 있습니다. 여기에는 기기 (instruments) 와 액세서리 (accessory) 를 추가/제거하는 기능과 장비의 메모리/성능 기능을 확장하는 기능이 포함됩니다. 또한, 이 시스템은 Windows, Linux 및 MacOS에 대한 소프트웨어 지원을 제공하여 사용자가 거의 모든 플랫폼에서 장치를 액세스하고 제어 할 수 있습니다. 무엇보다도, ADVANTEST T 5371 은 포괄적이고, 모듈식이며, 확장성이 뛰어난 최종 테스트 머신으로, 모든 디바이스 특성화 및 테스트 요구에 대해 효율적이고, 안정적이며, 비용 효율적인 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 이 툴은 다양한 측정 기능 (Measurement Capability) 과 기능 (Features) 을 제공하며, 탁월한 유연성과 사용 편이성을 제공하므로 다양한 애플리케이션에 적합합니다.
아직 리뷰가 없습니다