판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9123475
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ID: 9123475
Tester
Pogo tower M/B
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES.
장점 T 5371 최종 테스트 장비 (FANTEST T 5371 Final Test Equipment) 는 가장 안정적이고 비용 효율적인 방법으로 장치를 테스트하도록 설계된 프로덕션 등급 테스터입니다. 이 시스템은 다양한 시나리오를 통해 디바이스 성능을 빠르고 정확하게 평가할 수 있게 해 주고, 운영 프로세스의 품질 (Quality) 과 수익률 (Yrod of Production Process) 을 극대화하는 데 적합하다는 아이디어로 설계되었습니다. ADVANTEST T5371은 모듈식 (modular) 설계를 특징으로 하며, 각 고객의 요구에 맞게 쉽게 맞춤형으로 구성할 수 있습니다. 적응할 수 있는 테스트 채널 집합은 매우 유연한 3 또는 4 와이어 구성으로 테스트를 최적화 할 수 있습니다. 또한 프로그래밍 가능한 설치 (Programmable Setup) 를 통해 다양한 장치를 빠르고 쉽게 테스트할 수 있으며, 추가적인 테스트 일정 (Test Fixture) 이나 맞춤형 부품 (Custom Part) 의 필요성을 최소화할 수 있습니다. 테스트 장치에는 고속 (High Speed) 테스트 버스가 장착되어 있어 테스트 프로세스 속도를 높일 수 있습니다. 이 기계는 작동 점검, 테스트 및 측정을 최대 8 초/포인트 속도로 신속하게 준비 할 수 있습니다. 또한이 도구는 아날로그 IC, MOS, 트랜지스터 및 디지털 간 장치를 포함한 여러 장치 유형을 지원합니다. T 5371 의 추가 기능에는 포괄적인 표준 테스트 라이브러리, 테스트 프로그램 및 프로그램 라이브러리, 다양한 분산 테스트 옵션, 간편한 운영 및 검증을 위해 설계된 '일체형' 사용자 인터페이스 (All-in-One user interface) 가 포함됩니다. 오류 감지 (Error Detection) 및 진단 (Diagnostic) 기능도 제공되어 테스트 오류를 신속하게 파악하고 수정할 수 있습니다. T5371 은 신뢰할 수 있고 강력한 테스트 자산으로서, 포괄적인 툴을 제공하여 디바이스 성능을 신속하고 정확하게 평가합니다. 효율적인 모듈식 설계, 고속 테스트 버스 (High Speed Test Bus), 오류 감지 (Error Detection) 기능을 통해 디바이스 생산성을 극대화하고 생산성을 극대화하는 이상적인 솔루션이 됩니다.
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