판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #9092567

장점 T 5371 (ADVANTEST T 5371) 은 전자 부품 및 시스템의 품질과 성능을 보장하는 최종 테스트 장비입니다. 높은 정확도와 속도를 유연한 Smart Diagnostics 기능과 결합합니다. 이 시스템은 광범위한 모듈을 테스트할 수 있게 해 주며, 장애 격리 (fault isolation) 기술이 통합된 미세 피치 (fine-pitch) 프로브를 수행하도록 특별히 설계되었습니다. 이 장치는 구조 테스트, LA (Logic Analyzer) 및 BIST (Built-In Self-Test) 와 같은 고급 테스트 기술 도구를 사용합니다. 구조적 테스트 (Structural Test) 는 알고리즘을 사용하여 모듈 수준에서 신호 무결성을 검사하고 고속 감지 및 장애 진단을 지원하는 고속 디지털 테스트 (High Speed Digital Test) 로 구성됩니다. Logic Analyzer 는 직렬 버스 (예: PCI, SPI 등) 와 같은 다양한 버스의 결함을 감지하고 진단하기 위해 논리 신호를 검사하는 데 사용됩니다. BIST 테스트는 IC의 내부 결함을 감지하고 진단하는 데 사용되며, 느린 (slow) 및 간헐적인 (intermittent) 결함을 감지하도록 설계되었습니다. 장점 T5371 (ADVANTEST T5371) 은 고도의 정확도와 속도로 오작동 회로나 구성 요소를 식별하는 내장형 장애 격리 장치 (fault isolation machine) 를 갖추고 있습니다. 이 기능은 복잡한 다중 회로 설계를 통해 특히 효율적입니다. 또한, 도구의 스마트 진단 (Smart Diagnostics) 자산 (asset users) 은 교정 조치를 취할 수 있도록 실패의 근본 원인을 신속하게 파악하는 데 도움이 됩니다. 또한 고속 디지털 테스트 (High Speed Digital Test), 성능 수준을 측정하는 속도 테스트 (Speed Test), 초미세 피치 검사 (Ultra-Fine-Pitch Probing) 등 다양한 테스트 프로그램을 실행할 수 있습니다. 또한, 장비는 다양한 전원 공급 장치 테스트 및 AC/DC 전기 테스트를 실행할 수 있습니다. 시스템의 스마트 리포팅 장치 (Smart Reporting Unit) 는 테스트 결과의 전반적인 품질과 정확성을 보장합니다. 이 시스템은 여러 언어를 지원하며, 사용자 친화적 인터페이스 (User-Friendly Interface) 와 함께 사용하기 편리하게 설계되어 짧은 시간 내에 테스트의 효율성을 보장합니다. 또한, 이 툴은 맞춤식 구성이 가능하며, 고객의 요구에 맞게 최신 기능으로, 정기적으로 업그레이드할 수 있습니다. 전반적으로 T 5371 은 효율적이고 정확한 최종 테스트 자산으로, 장애 격리 기능이 통합된 초미세 피치 (ultra-fine-pitch) 프로브를 수행하고 전원 공급 장치, AC/DC 전기 테스트, 전체 모델 테스트 등 다양한 테스트를 지원합니다. 또한 자동화된 스마트 진단 (Smart Diagnostics) 장비를 제공하며 사용자 친화적 인터페이스와 함께 사용하기 쉽습니다.