판매용 중고 ADVANTEST T 5371 #293658054

ADVANTEST T 5371은 생산 칩 또는 기타 웨이퍼 레벨 구성 요소의 최종 테스트를위한 자동 장비입니다. 모든 회로 매개변수를 완벽하게 자동화, 고속, 안정적으로 측정할 수 있도록 설계되었습니다. 시스템은 호스트 컨트롤러, 외부 입/출력 인터페이스, 웨이퍼 스테이지, 프로버, 장치 및 기계 리소스, 2 개의 광 현미경으로 구성됩니다. 호스트 컨트롤러는 19형 컬러 모니터와 터치에 민감한 LCD 디스플레이를 갖춘 강력한 임베디드 PC 시스템을 기반으로 합니다. 툴을 제어하고, 데이터 입력, 스토리지를 구성하고, 다른 디바이스와 통신하는 데 사용할 수 있습니다. 직렬 또는 USB 연결을 통한 리모콘도 지원합니다. 외부 입/출력 인터페이스는 prober 및 magnifying 렌즈에 연결됩니다. 입력 및 출력에는 아날로그, 디지털 및 비디오 신호가 포함됩니다. 이를 통해 전압, 전류, 전력 소비, 신호 무결성, 로드/지연, 비디오 재생, 디지털 이미지 분석 등 다양한 매개변수를 측정할 수 있습니다. 웨이퍼 스테이지 (wafer stage) 는 전기식으로 구동되는 장치로 테스트 중에 웨이퍼 및 기타 부품을 고정하는 데 사용됩니다. 수평 및 수직 방향으로 웨이퍼 및 컴포넌트를 이동하도록 프로그래밍 할 수 있습니다. 이를 통해 Prober는 테스트가 수행되어야 하는 Wafer (웨이퍼) 의 정확한 지점에 액세스할 수 있습니다. 프로버 (Prober) 는 웨이퍼 연결을위한 여러 개의 헤드가있는 자동 기계식 암입니다. 프로버 (Prober) 는 테스트할 컴포넌트를 찾아서 모델에 정확하게 연결하기 위한 통합 비전 (Integrated Vision) 자산을 갖추고 있다. 장비 리소스는 테스트 결과를 제공합니다. 여기에는 스펙트럼 분석기, 오실로스코프, 주파수 카운터, 논리 분석기와 같은 여러 도구가 포함됩니다. 신호 및 전력 측정, 노이즈 분석, 파형 테스트, 논리 관계 조사 등을 위해 사용할 수 있습니다. 두 개의 광학 현미경은 광학 검사에 사용됩니다. 최대 10 배와 20 배의 배율을 제공하여 구성 요소를 정확하게 식별하고 측정할 수 있습니다. 장점 T5371 (ADVANTEST T5371) 은 모든 시스템 구성요소를 통합적으로 작동시켜 많은 수의 구성요소를 자동으로 테스트할 수 있게 해 줍니다. 결과적으로 테스트 효율성과 정확성이 향상됩니다. 또한 고급 데이터 분석 기술 (Advanced Data Analysis technology) 을 통해 최종 테스트 전에 구성 요소의 문제를 감지하고 수정할 수 있습니다.