판매용 중고 ADVANTEST T 5365P #9179770

ADVANTEST T 5365P
ID: 9179770
Tester mainframe Boards: DPU Name P/N IFL BGR-016793 IFA BGR-016794 DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - PSL BGR-016795 PS BGR-016796 PS BGR-016796 PS - PS - PSL BGR-016795 PS BGR-016796 PS BGR-016796 PS - PS - 16V - 16V - HVL BGR-017417 HV BGR-017418 HV - SCU Name P/N SC BGR-018840 SC BGR-018840 SC BGR-018840 SC BGR-018840 DDIST BGR-018839 DDIST BGR-018839 SDIST BGR-018838 DDIST BGR-018839 DDIST BGR-018839 SC - SC - SC - SC - PCPE - PCPE - IF BGR-018842 VOO Name P/N IOVD BGR-018837 IOVD BGR-018837 IOVD BGR-018839 IOVD BGR-018837 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 Main: PG/FM Name P/N PGIF BGR-018197 PFCON BGR-018198 PC BGR-018199 AGEN BGR-018200 DGEN BGR-018201 SCR BGR-018390 AGEN - DGEN - SCR - DIST BGR-018203 AMUX BGR-019378 DMUX BGR-019379 DMUX BGR-019379 MMUX BGR-019380 VCONT - VMEM - VFORM - DFM BGR-019383 DFM BGR-019383 ASEL BGR-019381 ASEL - ADLY BGR-019382 ADLY BGR-019382 FMCON BGR-018207 PM - AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM - AFM - AFM - AFM - TERM BGR-018629 TOPC Name P/N TGIF BGR-015554 TH/IF BGR-018125 MDA 6104420X05 TGCNT BIR-013610 RATE BGR-014633/BIR-015398 DELAY BGR-015470 CLK BGR-015466X02 CLK BGR-015466X02 STRCNT BGR-015467X02 DELAY BGR-015470 CLK BGR-015466X02 PDS1 BGR-018834 PDS2 BGR-018834 FC1 BGR-015839 FC2 BGR-015839 FC3 BGR-015839 FC4 BGR-015839 FC5 BGR-015839 FTUIF BGR-018841 VIO Name P/N IOVIO - IOVIO - IOVIO - IOVIO - ANA - DRVIO - DRVIO - ANA - IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 ANA BGR-018822 DRVIO BGR-018823 DRVIO BGR-018823 ANA BGR-018822 LOG BGR-018821.
ADVANTEST T 5365P 최종 테스트 장비 (Final Test Equipment) 는 장치당 운전 수율, 품질, 비용의 엄격한 요구를 충족하도록 설계된 고효율의 반자동 제조 테스터입니다. 대용량 운영 설정에 이상적인 T 5365P 는 운영 환경에 필요한 포괄적인 테스트 기능 및 스테이션 유연성을 제공합니다 (영문). 이 시스템은 PC 마더보드 아키텍처를 기반으로 하며, 안정적이고 빠른 성능을 보장하기 위해 Core 2 Duo 프로세서로 구동됩니다. ADVANTEST T 5365P는 4개의 디지털 I/O 채널을 지원하여 처리량을 높이고 정확도를 높여 멀티라인 기능 테스트 성능을 제공합니다. 멀티 라인 기능은 고급 디지털 패턴 생성기 (digital pattern generator) 와 단일 엔드/차등 비교기 (single-end/differential comparator) 및 멀티플렉서 (multiplexer) 를 내부 스위치 매트릭스 (옵션) 와 사용하여 가능합니다. 툴링 장치에는 독점 T-ContacterTM 이 포함되어 있어 테스트 디바이스를 신속하게 로드하고 언로드할 수 있습니다. 또한 디바이스를 비동기식으로 테스트할 수 있도록 하여 긴 대기열 시간을 허용합니다. 이렇게 하면 고정장치 재설정이 줄어들고 전반적인 테스트 효율이 향상됩니다. T 5365P는 내장 열 방출 및 CF (Contamination Free) 기능으로 설계되었습니다. 테스트 시간 동안 열에너지를 소멸시키는 능력은 재작업 빈도를 낮추고 칩 (chip) 간 빠른 전환 (switchover) 을 허용합니다. 또한, CF 지원 기능을 사용하여 칩의 오염 및 손상을 예방할 수 있습니다. 이 시스템은 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 및 APE (Automated Programming Environment) 를 사용하여 빠르고 쉽고 경제적인 테스트 솔루션을 프로그래밍합니다. 공구 메모리에 직접 테스트 벡터 (test vector) 를 저장하고, 복잡한 설계의 문제를 해결하는 엔지니어를 돕기 위해 풍부한 기능의 디버깅 럭셔리를 제공합니다. ADVANTEST T 5365P에는 광범위한 진단 및 통계 분석 소프트웨어 (Diagnostics and Statistical Analysis Software) 가 포함되어 있어 디바이스 성능에 대한 자세한 분석을 수행할 수 있습니다. 이 자산은 로그 분석 및 보고 결과 (다양한 통계 형식) 를 수행할 수 있습니다. T 5365P Final Test Model은 빠르고 안정적인 테스트 솔루션을 찾는 테스트 엔지니어 및 운영자에게 이상적인 플랫폼입니다. 다양한 기능, 고급 진단 (Advanced Diagnostics), 구성 가능한 테스트 옵션을 통해 모든 운영 테스트 요구에 가장 적합한 솔루션이 될 수 있습니다.
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