판매용 중고 ADVANTEST T 5365 #162878

ADVANTEST T 5365
ID: 162878
Memory test system Configuration: SYSTEM CONFIGURATION LIST SYSTEM IDENTIFICATION CONFIGURATION OF TEST HEAD NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 TEST HEAD TYPE 1.650CH 2.1300CH [1,2] .....................> 2 PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105] CHILD A ....> 33,41,97,105 CHILD B ....> 33,41,97,105 CHILD C ....> 33,41,97,105 CHILD D ....> 33,41,97,105 CHILD E ....> 33,41,97,105 CHILD F ....> 33,41,97,105 CHILD G ....> 33,41,97,105 CHILD H ....> 33,41,97,105 PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N] CHILD A ....> NO CHILD B ....> NO CHILD C ....> NO CHILD D ....> NO CHILD E ....> NO CHILD F ....> NO CHILD G ....> NO CHILD H ....> NO PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD? [Y,N] CHILD AB ...> NO CHILD CD ...> NO CHILD EF ...> NO CHILD GH ...> NO CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 TEST HEAD TYPE 1.650CH 2.1300CH [1,2] .....................> 2 PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105] CHILD A ....> 33,41,97,105 CHILD B ....> 33,41,97,105 CHILD C ....> 33,41,97,105 CHILD D ....> 33,41,97,105 CHILD E ....> 33,41,97,105 CHILD F ....> 33,41,97,105 CHILD G ....> 33,41,97,105 CHILD H ....> 33,41,97,105 PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N] CHILD A ....> NO CHILD B ....> NO CHILD C ....> NO CHILD D ....> NO CHILD E ....> NO CHILD F ....> NO CHILD G ....> NO CHILD H ....> NO PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N] CHILD AB ...> No CHILD CD ...> No CHILD EF ...> No CHILD GH ...> No CONFIGURATION OF DPU 1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES 2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16 10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16 10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE 1.BGR-010944X01 2.BGR-010944X02 3.BGR-010944X03 4.BGR-010944X04 5.BGK-012718 [0-5] .........> 0 2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE 1.BGR-016793 (DPU I/F) 2.BGR-010944X05 3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1 DMM TYPE 1.TR6861 2.R6871E 3.R6551 [1-3] .........> 3 AC FREQUENCY (HELTZ) [50,60] ........................> 50 CONFIGURATION OF TG OPTION CLOCK : 48 EDGES [Y,N] .......................> NO CONFIGURATION OF ALPG SUB PG [Y,N] ....................................> NO CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FM BOARD [0-8] ...........................> 0 PATTERN MEMORY [Y,N] ................................> NO CONFIGURATION OF VRAM VRAM3 OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FCDC PIN CPE SEL [Y,N] ...........................> NO.
ADVANTEST T 5365는 반도체 테스트 산업의 리더 인 ADVANTEST Corporation의 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 집적 회로의 운영 속성을 테스트하고 검증하기 위해 설계되었습니다. 이 장치는 최대 테스트 속도가 25MHz 인 고속, 하이 카운트 테스터 (high-count tester) 이며 최소 사이클 시간은 100 마이크로 초입니다. 동시에 여러 장치를 테스트할 수 있으며, 시간당 최대 160 만 핀을 테스트하며, 수동, 반자동, 전체 자동 작동 방식으로 작동할 수 있습니다. ADVANTEST T5365에는 다양한 테스트 어플리케이션에 맞게 맞춤 구성할 수있는 2 개의 테스트 헤드가 장착되어 있습니다. 통합 펄스 발전기 (Pulse Generator Board) 가 장착되어 있어 테스트에 빠르고 정확한 타이밍 신호를 제공합니다. 이 기계는 또한 대용량 LCD 모니터를 통해 테스트와 성능을 손쉽게 모니터링할 수 있습니다. 테스터에는 Periheral 장치 및 제어 시스템과의 통합을위한 통합 디지털 연결 도구가 있습니다. 테스트터는 고속 데이터 전송 또는 원격 제어 어플리케이션을 위해 IEEE-488 또는 이더넷을 통해 외부 시스템과의 통신을 위해 구성할 수 있습니다. 테스트 환경에는 모듈식 테스트 준비 보드 (ready-to-test board) 가 포함되어 있어 장치에 대한 고성능 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 자산에는 자동 장애 진단 (fault diagnostics) 기능도 포함되어 있으며, 이 기능은 빠르고 고밀도 응용 프로그램에서 오류를 감지하고 보고할 수 있습니다. T 5365 모델은 안전 기능이 내장되어 있어, 가장 까다로운 환경에서 사용할 수 있습니다. 전원 및 데이터 라인은 고성능 서지 보호 (surge protection) 및 ESD 보호 (ESD protection) 를 통해 보호되며, 입력 및 출력 채널은 과잉 보호 기능을 통해 보호됩니다. 이 장비의 하드웨어 부품은 충격 (shock), 진동 (vibration) 및 온도 극단을 견딜 수 있도록 설계되어 운영 라인에 적합합니다. 전반적으로, T5365 최종 테스트 시스템은 다양한 업계의 집적 회로에 대한 고정밀 (high-precision) 테스트 및 검증을 위해 설계되었습니다. 빠른 테스트 속도, 고밀도 핀 수 (Pin Count), 자동화된 장애 감지 및 진단 기능, 다양한 안전 기능 등을 갖추고 있어, 산업 생산 라인 테스트에 적합한 안정적이고, 유능한 장치입니다.
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