판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9361741

ADVANTEST T 5335P는 프로그램 가능한 비휘발성 메모리 및 디지털 IC에 대한 초고속 테스트를 위해 설계된 강력한 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 기능과 이점을 제공하므로 고도의 테스트 프로세스 (advanced test process) 를 위한 최적의 선택입니다. ADVANTEST T5335P는 고속 FPGA (Field-Programmable Gate Array) 기반 아키텍처를 사용하여 최대 5Mhz 및 최대 256의 테스트 주기 시간을 제공합니다. 즉, 운영 효율성 향상에 필수적인 고속 병렬 테스트가 가능합니다. 또한, 이 장치는 낮은 전력 소비량과 최적화된 냉각, 그리고 안정적인 성능을 제공하도록 설계되었습니다. T 5335 P 는 FPGA 아키텍처 외에도 고급 소프트웨어 기능을 통해 테스트 패턴을 다양하고 직관적으로 프로그래밍할 수 있습니다. 사용이 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 사용자는 테스트 절차를 신속하게 개발하고 실행할 수 있습니다. 또한 VHDL 언어로 작성된 프로그램을 지원하여 뛰어난 유연성과 확장성을 제공합니다. ADVANTEST T 5335 P에는 일반적으로 사용되는 논리 패턴 (logic pattern) 을 위한 강력한 라이브러리 기능이 포함되어 있으므로 사용자가 수동으로 만들 필요가 없습니다. 이를 통해 한 번의 스윕 (sweep) 에서 여러 가지 평가를 가능하게 하는 빠르고 효율적인 테스트가 가능합니다. 이 기계는 또한 빠른 스캔 시간 (scan time) 과 최소한의 칩 개입 (chip intervention) 을 통해 단일 도구에서 다중 테스트 구성을 지원합니다. 마지막으로, T5335P 의 고급 기능 (예: 엔지니어링 툴, 기존 호스트 시스템) 은 테스트 계획에서 테스트 구조 (Test Structure) 로의 흐름을 자동화하고, 테스트 데이터와 결과를 조직 전체에 공유할 수 있습니다. 이러한 작업 흐름 통합 기능을 통해 보다 효율적인 통합 테스트 프로세스를 수행할 수 있습니다. 요약하자면, T 5335P는 프로그램 가능한 비휘발성 메모리 및 디지털 IC에 대한 초고속 테스트를 위한 매우 다용도, 신뢰성 있는 솔루션을 제공합니다. 빠른 주기 시간, 낮은 전력 소비량, 직관적인 프로그래밍, 강력한 통합 기능을 갖춘 이 자산은 최첨단 (Lead-Edge) 테스트 및 평가에 이상적인 선택입니다.