판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9311756

ADVANTEST T 5335P
ID: 9311756
빈티지: 1995
Memory tester Temperature range: 150°C Tester processor: TP4 OS Rev: ASX/U-50: 6.04-1 SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02 DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G TH1: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card TH2: 650 OP1 Pin card OP2 Pin card DPU: TH1 DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 TH2: DC: 1-8 10V PPS: 1-16 HV PPS: 1-4 FM: 144 M (2) FM Boards Size of FM module: 8 M Memory bank (4) Memory blocks No patten memory BGR-020816X02 FM Board MRA: MRA Option: MRA2 Type of CBU board: BGR-019267 (2) CBU Boards Type of FBM board: 2 M, 72 Bit (4) FBM Boards No compression function FCDC: Flash option BGR-020774 SC Board 1995 vintage.
장점 T 5335P (ADVANTEST T 5335P) 는 전자 업계에서 사용할 장치의 고속, 높은 정확도를 테스트하기 위해 개발 된 완전 통합 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 다양한 기능과 이점을 제공하므로, 빠르고, 안정적이며, 비용 효율적인 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 장치는 다용도가 높은 액티브 프로브 머신 (Active Probing Machine) 과 테스트가 필요한 여러 장치를 동시에 처리 할 수있는 자동 핸들러 (Automated Handler) 를 갖추고 있습니다. 견고한 소프트웨어는 펌웨어 (firmware) 와 하드웨어 개발을 위한 플랫폼 역할을 하며, 다양한 테스트 요구에 맞게 소프트웨어를 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 이 플랫폼은 높은 정확도, 고속 (high-speed) 장치 테스트를 위해 설계되었으며, 실제 장치 성능의 진단 및 특성을 높이기 위해 스마트 기능으로 향상되었습니다. 이 도구의 고급 활성 프로브 (Active Probe) 선택 알고리즘은 병렬 테스트 매개변수 선택 기능이 테스트를 가속화하는 동안 장치에서 신호를 정확하고 안정적으로 캡처합니다. 에셋의 프로브 헤드 (Probing Head) 는 필요에 따라 특정 장치 및 테스트 요구 사항에 맞게 사용자 정의 할 수있는 광범위한 프로브 센서를 제공합니다. 또한, 모델의 실시간 종료 기능은 예상치 못한 이벤트로 인해 테스트 실패를 방지합니다. 이 장비는 또한 STIL, C-programs, VN-Lint, ATE-V 및 TestLinx와 같은 다양한 업계 표준 테스트 언어를 지원하여 소프트웨어 통합을 용이하게 합니다. 또한, 사용자에게 친숙한 그래픽 사용자 인터페이스를 통해 기존 테스트 프로그램에서 테스트 데이터를 원활하게 전환할 수 있습니다. 전자산업의 새로운 요구 사항을 지원하기 위해, ADVANTEST T5335P 는 업그레이드 능력이 뛰어나, 사용자가 쉽게 기능을 추가하고, 시스템 기능을 향상시킬 수 있습니다. 이 장치는 또한 자산 정확성 유지, 테스트 처리량 향상, 모델 비용 절감을 지원하는 포괄적인 시스템 모니터링/진단 지원 툴을 자랑합니다. T 5335 P는 자동차, 가전 제품, 통신, 데이터 저장 장치 용으로 제조된 칩에 이상적인 테스트 솔루션입니다. 또한 산업, 의료 및 군사 응용 분야의 장치 테스트에도 널리 사용됩니다. 우수한 성능과 사용자 친화적 (user-friendly) 기능을 통해 장비는 장치 테스트의 정확성과 효율성을 대폭 향상시킬 수 있습니다.
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