판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9311753
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ID: 9311753
빈티지: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
TH2: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
장점 T 5335P 최종 테스트 장비 (FANTEST T 5335P Final Test Equipment) 는 고급 전자 장치 테스트에 필요한 요구 사항을 충족하도록 설계된 강력한 도구입니다. 이 시스템은 다양한 반도체, RF, 디지털 장치에 대해 종합적인 전기 테스트를 수행 할 수 있습니다. 이 장치는 특히 CAM (Computer-aided Manufacturing) 의 대량 최종 테스트 및 선적 전에 최종 테스트가 필요한 다른 유형의 IC 장치에 적합합니다. ADVANTEST T5335P는 고속 병렬 처리 아키텍처를 사용하며 호스트 컨트롤러, 카드 랙 세트, 테스터 모듈, 글로벌 제어 및 모니터를 포함합니다. 이 시스템에는 선택 가능한 사용자 프로그래밍 가능한 다중 하드웨어 및 소프트웨어 테스트 기능도 포함되어 있습니다. T 5335 P는 논리 테스트, 아날로그/디지털 측정, 장애 감지 등 다양한 테스트 기능을 제공합니다. 이 도구는 고유한 Memory Flex 컨트롤러를 사용하여 복잡한 테스트 요구 사항에 신속하게 적응할 수 있습니다. 메모리 (Memory) 플렉스 (Flex) 컨트롤러는 테스트 시퀀스를 실행하기 전에 테스트 결함을 감지하여 오류가 발생할 경우 테스트를 중단할 수 있습니다. 이 자산에는 8 개의 테스트 사이트 (6 개의 계기 테스트 사이트 및 2 개의 일반 테스트 사이트) 가 있으며 다양한 특수 기능으로 구성 될 수 있습니다. 이러한 기능에는 디지털 자극, 전자 교정, 크로스 토크 감지 기능, 공급 및 속도 최적화가 포함됩니다. 이 모델은 또한 다양한 테스트 유틸리티 (예: 논리 노이즈 분석, 노드 스캔 분석, 패턴 결합) 를 실행할 수 있습니다. 또한 ADVANTEST T 5335 P (글로벌 컨트롤 및 모니터) 는 대용량 컬러 디스플레이에 테스트 결과 및 분석 데이터를 표시합니다. 이 장비는 보고서 생성, 자동 데이터 로깅, 데이터베이스에 대한 실시간 인터페이스도 갖추고 있습니다. T 5335P 최종 테스트 시스템은 CAM 및 기타 IC 장치의 대용량 테스트에 이상적입니다. 고속, 병렬 처리 기능, 유연한 테스트 기능, 포괄적인 보고 기능을 통해 반도체, RF, 디지털 디바이스 테스트 어플리케이션에 최적의 선택이 가능합니다.
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