판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9311743
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ID: 9311743
빈티지: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
TH2: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P는 다중 사이트 웨이퍼 레벨 테스트를 가능하게 하는 고성능 최종 테스트 장비입니다. 패키지 및 웨이퍼 레벨 테스트에 뛰어난 테스트 속도, 정확도, 효율성을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 5335P TDE (Test Development Environment) 로 프로그래밍됩니다. TDE (Test Development Environment) 는 고객의 요구에 맞게 구성된 테스트를 설계하기위한 종합적인 도구 세트입니다. 기록 로그 (history log), 단일 사이트 (single-site) 및 다중 사이트 테스트, 조정 가능한 테스트 감도, 복잡한 테스트 지원 등 다양한 테스트 패턴과 기능을 제공하도록 구성할 수 있습니다. 이 장치는 또한 온보드 하드웨어 및 전자 부품을 제공하여 정확하고 안정적인 테스트 결과를 보장합니다. 장점 T5335P (ADVANTEST T5335P) 는 특허 출원 중인 웨이퍼 처리 기술을 사용하여 기계가 최대 8 개의 독립 사이트에 대해 각 테스트 사이트를 독립적으로 테스트할 수 있습니다. 따라서 테스트 시간과 관련 비용이 줄어듭니다. 한 번에 최대 8 개의 웨이퍼를 처리 할 수 있으며, 시간당 최대 8 개의 웨이퍼를 처리할 수 있습니다. 또한, 이 툴은 데이터 획득, 조건 확인, 결과 보고 등 포괄적인 테스트 기능 및 유틸리티 집합을 제공합니다. 에셋에는 유연한 테스트 (Flexible Test) 플랫폼이 장착되어 있어 모델 토큰을 사용하여 다중 테스트 구성을 유지하고 혼합 장치 웨이퍼 테스트 (Mixed-Device Wafer Test) 및 고주파 테스트 (High-Frequency Test) 와 같은 응용 프로그램의 장비 유틸리티를 최대화할 수 있습니다. 또한 32 비트 프로세서와 여러 모듈이 포함되어 있어 디지털, 아날로그 등 다양한 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이 시스템은 DC 및 AC 테스트, 고주파 테스트, 장애 감지 등의 추가 테스트 기능을 제공하도록 사용자 정의할 수 있습니다. T 5335 P는 가장 까다로운 테스트의 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 정확성이 뛰어난 견고한 단위이며, 반복 가능한 안정적인 결과를 제공합니다. 이 다용도 테스트 시스템은 고객의 모든 고성능 테스트 요구 사항을 충족해야 합니다.
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