판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #9178728
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ID: 9178728
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 1996
Memory tester, 12"
System configuration generate
Configuration of test head
Number of test head [1,2] ...........................>[2]
Configuration of test head 1
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A ....> [33,41,97,105˙]
Child B ....> [33,41,97,105˙]
Child C ....> [33,41,97,105˙]
Child D ....> [33,41,97,105˙]
Pin configuration Option1 PIN CARD [Y,N]
Child A ....> [Yes]
Child B ....> [Yes]
Child C ....> [Yes]
Child D ....> [Yes]
Pin configuration Option2 Pin card [Y,N]
Child AB ...> [Yes]
Child CD ...> [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Configuration of test head 2
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A: [33,41,97,105]
Child B: [33,41,97,105]
Child C: [33,41,97,105]
Child D: [33,41,97,105]
Pin configuration Option1 pin card [Y,N]
Child A [Yes]
Child B [Yes]
Child C [Yes]
Child D [Yes]
Pin configuration Option2 pin card [Y,N]
Child AB [Yes]
Child CD [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Configuration of DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
Test head 1
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
Test head 2
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
1'ST GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] [0]
2'ND GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] [1]
DMM Type
1. TR6861
2. R6871E
3. R6551
4. R6552T [1-4] [3]
AC Frequency (Hertz) [50,60] [60]
Configuration of FM
Number of FM board [0-4] [2]
Size of FM module
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] [1]
Number of memory bank [1-2] [2]
Number of memory bank [1-4] [4]
Pattern memory [Y,N] [No]
FM Board kind
1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] [2]
Configuration of MRA
MRA2/3 Option [Y,N] [Yes]
MRA Option type [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) [2]
Type of CBU Board [1,2]
(1: BGR-019267)
(2: BGR-019267X02) ....> [1]
Number of CBU Board [1,2] [2]
Type of FBM Board [1,2,3,4] (1= 2M*72BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> [1]
Number of FBM Board [1-4] [4]
Compression function [Y,N] [No]
Configuration of FCDC
Flash option [Y,N] [No]
SC Board kind
1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] [1]
End save
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P는 오늘날의 고밀도 및 복잡한 집적 회로 (IC) 의 성능을 신속하게 평가하기 위해 설계된 종합적인 Final Test 장비입니다. 이 시스템은 IC 테스터, 핸들러 및 다양한 테스트 헤드를 포함한 기기 플랫폼으로 구성됩니다. 테스터는 광범위한 범용/사용자 프로그래밍 가능한 테스트 프로그램을 갖추고 있으며, 다양한 IC (IC) 를 쉽고 자신있게 테스트할 수 있습니다. ADVANTEST T5335P 테스터는 고속 데이터 수집이 가능하며, 테스트 설정 중에 데이터를 정확하게 분석할 수 있습니다. 유지 보수, 수명이 긴 설계를 통해 고온, 혹독한 환경 상태에서도 안정적인 성능을 보장할 수 있습니다. 사용자 친화적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 쉽게 작동하고 프로그래밍할 수 있으며, 테스트 실행을 위한 다양한 기능이 포함되어 있습니다. T 5335 P IC 테스터는 매우 정확하며 IC에서 가장 작은 결함까지도 감지 할 수 있습니다. 고밀도 테스트 기능을 통해 최대 1608 핀의 IC를 처리 할 수 있습니다. 자동 테스트 생성 기능은 다른 IC에 대한 테스트를 신속하게 구축하여 시간과 비용을 모두 절약합니다. 또한, 테스트 장치에는 내장 안전 제어 장치 (Safety Control Machine) 가 장착되어 있어 테스트 중에 IC가 손상되지 않도록 보호합니다. T5335P 도구는 아날로그 IC, 디지털 논리 IC, MCM IC, 마이크로 컨트롤러, 프로세서 및 응용 프로그램 특정 IC를 포함한 다양한 IC를 테스트하도록 설계되었습니다. 또한, 자산에는 IC의 각 핀에서 전기 정보 (electrical information) 를 캡처하고 전기 신호 (electrical signal) 를 분석하도록 설계된 여러 테스트 헤드가 포함되어 있습니다. 이 모델은 또한 실시간 장애 진단 (fault diagnosis) 기능을 제공하며 테스트 중 문제를 신속하게 파악할 수 있습니다. 또한, ADVANTEST T 5335 P 장비는 IC 테스트의 효율성과 정확성을 높이기 위해 광범위한 추가 기능을 제공합니다. 여기에는 장애 시뮬레이션, 아날로그 패라메트릭 테스트, 정렬, 비교, 인쇄, 디스플레이 등의 데이터 분석 기능이 포함됩니다. 마지막으로, 시스템은 ADVANTEST 신뢰성 있는 고객 서비스의 지원을 받아, T 5335P는 고밀도 및 복잡한 IC 테스트를 위한 이상적인 선택입니다.
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