판매용 중고 ADVANTEST T 5335P #135567
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ID: 135567
빈티지: 1997
Memory test systems
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (HERTZ) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] .........> 4
SIZE OF FM MODULE
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BANK [1-2] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BLOCK [1-4] .........> 4
PATTERN MEMORY [Y,N] .........> NO
FM BOARD KIND 1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] ..............> 2
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) ...........> 2
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1,2,3,4] .......................> 2
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3,4] (1= 4M*36BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> 3
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
SC BOARD KIND 1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] ..............> 1
Currently stored in a warehouse
1997 vintage.
ADVANTEST T 5335P는 전자, 자동차, 로봇 등 다양한 분야의 엔지니어 및 전문가를 위해 설계된 FINAL TEST 장비입니다. 이 시스템은 장치 수준 검증 및 디버깅 관련 테스트를 수행하기 위한 하이엔드 솔루션을 제공합니다. ADVANTEST T5335P는 광범위한 테스트 프로그래밍 기능 및 포괄적 인 테스트를 제공합니다. 정확한 시스템 테스트 시나리오, 확인, 디버깅, 분석 및 멀티 코어 SoC (Tool-on-Chip) 장치의 최적화 여기에는 DSP (Programmable Digital Signal Processing) 플랫폼이 포함되어 있어 아날로그-디지털 및 디지털-아날로그 신호 변환을 구성하여 맞춤형 테스트 솔루션을 만들 수 있습니다. 또한 전자 장치는 PPS (Programmable Power Supplies) 를 통해 전원을 공급하고 오실로스코프를 사용하여 자세한 설계 데이터를 얻을 수 있습니다. FFT (Fast Fourier Transform) 및 벡터 신호 분석기 (Vector Signal Analyzer) 와 같은 고급 테스트 도구를 사용하면 시뮬레이션 및 에뮬레이션 솔루션뿐만 아니라 신호 처리를 구성하고 최적화할 수 있습니다. T 5335 P는 또한 매개 변수 추정 및 검증을 위해 SIP (Semiconductor Parametric Test) 에 사용될 수 있습니다. 또한, 이 테스트 자산은 오디오, 비디오 테스트와 같은 응용 프로그램의 신호 및 시간 상관 관계를 허용합니다. 테스트는 대기 모드와 활성 모드 모두에서 수행할 수 있습니다. 마지막으로, T 5335P 는 운영 실행에 대한 디버그 타임 감소 및 실시간 중단점 (breakpoint) 및 추적 캡처 기능을 제공하는 고급 디버깅 기능을 제공합니다. 또한 데이터 관리 기능을 통해 정확하고 효율적인 하드웨어/소프트웨어 테스트를 수행할 수 있습니다. 여기에는 Waveforms, Timing Diagrams 등 다양한 테스트 데이터를 저장할 수 있는 BDS (Big Data Storage) 옵션이 포함됩니다. 전반적으로, 다양한 Final Test 솔루션을 갖춘 고급 테스트 모델입니다.
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