판매용 중고 ADVANTEST T 5334 #293657599

ID: 293657599
웨이퍼 크기: 12”
빈티지: 1999
Memory tester, 12” 1999 vintage.
ADVANTEST T 5334는 Semiconductor Test Solutions의 업계 리더 인 ADVANTEST Corporation에서 제조 한 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 메모리 장치, 자동차 칩, 기타 아날로그 (analog) 및 디지털 장치 (component level diagnostics) 와 같은 반도체 제품의 테스트 및 프로그래밍을 위해 설계되었습니다. 이 시스템은 양적 생산 테스트 (volume production test) 에서 연구 개발 (research and development) 에 이르는 응용 분야에 이상적인 고정밀 측정 및 광범위한 테스트 범위를 제공합니다. T 5334 는 교정된 D/A 변환기를 제공하여 각 테스트를 자체 사양으로 구성할 수 있습니다. 또한 동기식 다중 채널 LVDS 신호 분석기/생성기 (signal analyzer/generator) 가 포함되어 있어 여러 장치에서 장애를 자동으로 감지하고 회로 보드 문제를 감지할 수 있습니다. 이 장치는 유니버설 테스트 버스 (Universal Test Bus) 로 설계되었으며, 이를 통해 여러 개의 정교한 장치를 동시에 테스터에 연결할 수 있으므로 테스트가 더 효율적이고 정확합니다. ADVANTEST T 5334에는 테스트를위한 일관된 환경, 일관성 있고 정확한 결과를 제공하는 열 테스트 챔버 (thermal test chamber) 도 포함되어 있습니다. 통합 고조파 분석기 (Almonic Analyzer) 및 로깅 (Logging) 기능을 통해 신속한 데이터 추세 분석 및 제어가 가능하며, 동시 멀티 사이트 테스트 기능을 통해 더 높은 핀 수 장치를 효율적으로 테스트할 수 있습니다. T 5334 는 생산에서 반도체 테스트를 위해 설계된 제품으로, 비용과 출시 시간을 모두 줄일 수 있습니다. 최대 50MHz 의 테스트 주파수, 최대 1A/100V 의 전류 및 전압 범위, 인터페이스 및 병렬 테스트, -40 도 ~ + 125 도 C 의 온도 테스트 등 다양한 성능을 제공합니다. 아날로그 (analog) 와 디지털 (digital) 을 동시에 측정할 수 있어 다양한 테스트/개발 애플리케이션에 적합하고 다양합니다. 이 기계는 또한 자동 자동 진단 (self-diagnostics) 및 교정 루틴 (calibration routine) 을 갖추고 있어 각 테스트 시나리오에 대해 장비가 최적으로 구성되어 있는지 확인합니다. 또한 모듈식 (modular) 설계를 통해 테스트의 필요성이 증가하거나 변경될 때 쉽게 도구를 확장할 수 있습니다. 또한 Report Generator 를 내장하여 데이터를 빠르고 쉽게 저장하고 액세스할 수 있습니다. 궁극적으로, ADVANTEST T 5334는 생산 테스트, 연구 및 개발 및 프로토 타입에 이상적인 선택입니다. 이 제품은 다양한 디바이스를 테스트할 수 있는 빠르고, 안정적이며, 비용 효율적인 솔루션을 제공하며, 고객이 제품을 적절히 테스트하여 소비자를 위한 준비가 되었다는 확신을 제공합니다 (영문).
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