판매용 중고 ADVANTEST T 3347A #165019
URL이 복사되었습니다!
ID: 165019
Tester
Configuration:
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
Configuration of test station
How many test station <1 or 2 & CR> ? 1 ................> 2
Test station 1 is 256HV2
Station1 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no
What number of pin exist in station 1 ......................> 1-256
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256
Test station 2 is 256HV2
Station2 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no
What number of pin exist in station 2 ......................> 0
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 0
SELECT PPS/MDC/UDC
System : 4PPS (1) or 8PPS (2)
Select PPS (see above) <0-2 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 2 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 1 ............> 1
Station 2 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 0 ............> 0
60V PPS/UDC option exist <Y OR N & CR> ? no ........> no
SELECT DMM
R6871E (1) or R6581T (2)
Select DMM (see above) <1-2 & CR> ? 1 ............> 1
GPIB ADDRESS #210
BIT/AD option exist <Y or N & CR> ? yes ........................> yes
How many BIT option ch in station 1 <0,2 or 4 & CR> ? 2 ......> 2
How many BIT option ch in station 2 <0,2 or 4 & CR> ? 0 ......> 0
AD option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes
12bit_AD (1) or 14bit_AD (2) <1 or 2 & CR> ? 1 ..........> 1
ADC test option exist <Y or N & CR> ? yes ......................> yes
How many ADC test op. ch in station 1 <0-2 & CR> ? 1..........> 1
How many ADC test op. ch in station 2 <0-2 & CR> ? 0..........> 0
HV2-HSCLK option exist <Y or N & CR> ? no .......................> no
Select option CLK
64TE CLK option exist <Y or N & CR> ? yes ....................> yes
Select STE size
STE capacity 256KW(1) 1MW(2) 2MW(3)
Select STE size (see above) <1-3 & CR> ? 2 ...................> 2
SBM option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes
How many SBM memory boards <1-8 & CR> ? 2 ...................> 2
ALPG option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes
END SAVE
Currently stored in a warehouse.
ADVANTEST T 3347A는 burn-in 및 wafer probe 테스트 응용 프로그램을 위해 설계된 멀티 채널 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 최대 8 개의 테스트 채널을 지원하며, 다양한 테스트 보드 및 액세서리와 함께 사용할 수 있습니다. ADVANTEST T3347A 장치는 VXI-1394 컨트롤러로 구동되며 최첨단 테스트 벡터 생성기와 임베디드 벡터 시퀀서를 포함합니다. 이 기계는 컴팩트하고 견고한 폼 팩터 (form factor) 를 갖추고 있어 다양한 환경에서 고속, 고주파 (high-frequency) 테스트에 적합합니다. 또한, JTAG 장치를 지원하기 위해 고급 디지털 I/O 인터페이스가 포함되어 있어 테스트 보드 신호를 쉽게 프로그래밍할 수 있습니다. 이 툴은 다양한 테스트 프로그램 (test program) 을 지원하므로 원하는 테스트 시나리오를 기반으로 테스트 시퀀스를 신속하게 생성할 수 있습니다. 기본 제공되는 분석/보고 기능을 통해 데이터를 수집하고 손쉽게 저장하여 나중에 참조하거나 분석 (reference or analysis) 할 수 있습니다. 또한 이 자산에는 중단점 (breakpoint), 데이터 흐름 시각화 (data flow visualization), 제어 흐름 분석 (control flow analysis) 과 같은 고급 기능이 있는 디버그 환경이 포함됩니다. T 3347 A는 아날로그, 디지털, AC 및 DC 테스트, 전력 소비 및 누출 측정 등 다양한 내장 테스트 기능을 제공합니다. 또한 Wafer Testing 및 Burn-In Testing 모두에 대한 다양한 옵션을 지원합니다. 이 모델의 모듈식 설계 (modular design) 는 유지 보수 및 자원 액세스가 용이하며, 흡입 (suction) 및 로봇 처리기와 함께 사용하여 자동화를 향상시킬 수 있습니다. T 3347A는 최대 데이터 속도가 38.8 MB/s인 고급 대량 데이터 전송 능력을 갖추고 있습니다. 또한 전원 관리, Probe Interlock 제어, 정밀 측정, 장치 식별 등 다양한 계측, 분석, 제어 기능을 제공합니다. 최종 테스트 장비인 T3347A (T3347A) 는 높은 생산성 (Production) 및 신뢰성 (안정성) 테스트 요구를 충족하도록 설계되어 안정적이고 정확한 테스트 결과를 제공합니다. 이 시스템은 IEC/EN 61010-1 및 IEC/EN 61010-2 규정을 준수하며, 변화하는 규정 및 표준을 완벽하게 준수할 수 있는 유연성을 제공합니다. 장점 3347 A (ADVANTEST T 3347 A) 는 또한 여러 테스트 프로그램과 소프트웨어 도구를 지원하므로 사용자가 요구 사항을 충족하기 위해 맞춤형 테스트 시퀀스를 개발할 수 있습니다.
아직 리뷰가 없습니다