판매용 중고 ADVANTEST T 3347 #293610015

ID: 293610015
Tester Processor: TP4A (2) Test heads SYSTEM CONFIGURATION GENERATE Configuration of test station How many test station <1 or 2 & CR> ? 2 ................> 2 Test station 1 is 256HV2 Station1 reverse flow type <Y or N & CR> ? yes .............> yes What number of pin exist in station 1 ......................> 1-256 pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256 Test station 2 is 256HV2 Station2 reverse flow type <Y or N & CR> ? yes .............> yes What number of pin exist in station 2 ......................> 1-256 pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256 SELECT PPS/MDC/UDC System : 4PPS (1) or 8PPS (2) Select PPS (see above) <0-2 & CR> ? 2 ............> 2 Station 1 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4) Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 1 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4) Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 2 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4) Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 2 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4) Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2 60V PPS/UDC option exist <Y OR N & CR> ? no ........> no BIT/AD option exist <Y or N & CR> ? no .........................> no ADC test option exit <Y or N & CR > ? no .......................> no Select option CLK 64TE CLK option exist <Y or N & CR> ? no .....................> no Select STE size STE capacity 256KW(1) 1MW(2) Select STE size (see above) <1-2 & CR> ? 2 ...................> 2 SBM option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes How many SBM memory boards <1-2 & CR> ? 1 ...................> 1 ALPG option exist <Y or N & CR> ? no ...........................> no END SAVE.
ADVANTEST T 3347은 집적 회로 칩에서 생산 테스트를위한 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 시간당 최대 10 만 개의 칩을 처리할 수 있으며, 고급 테스트 범위, 하드웨어, 소프트웨어 기능을 제공합니다. 이 장치는 모듈식 플랫폼으로 제작되었으며 PXI/cPCI 카드 케이지, 내부 전원 공급 장치, 냉각기, 후면판 및 CPU로 구성됩니다. 이 코어 아키텍처에는 핫 스왑 방식의 PLC (High Speed Programmable Logic Controller), 측정 기기, 파형 생성기, 다양한 타사 어플리케이션을 지원하는 맞춤형 라이브러리 라이브러리 등 여러 모듈이 있습니다. 또한, 이 도구는 고정밀 아날로그 테스터 단위 및 차등 샘플링 프로브를 사용하여 이중 포트 특성을 측정합니다. 장점 T3347은 20 비트 수직 해상도와 6 및 8 비트 수평 해상도를 자랑하며 100 MHz 스캔 체인이 가능합니다. 다양한 고급 TT (Test and Testability) 아키텍처 및 Test Development 도구를 활용하는 컴팩트한 자산입니다. 메모리, 마이크로 프로세서 및 디지털 회로는 T 3347을 사용하여 테스트 할 수 있습니다. 또한, 매개변수 (parameterized) 테스트를 통해 테스트 개발 및 디버그에 소요되는 시간을 제한할 수 있으며, 높은 테스트 범위를 유지할 수 있습니다. T3347은 테스트 자동 실행, 테스트 결과 분석 및 진단 도구, 검증 및 관리자 (Verification and Manager), 테스트 포트 (TestPort) 그래프 및 데이터베이스 기능과 같은 광범위한 프로그래밍 및 사용자 인터페이스 기능 목록을 제공합니다. 커스터마이징 가능한 테스트 프로그램 (customizable test program) 과 테스트 라이브러리 (test library) 를 통해 복잡하고 매우 민감한 집적회로 테스트 프로세스를 구체화하고 테스트 주기 시간을 더욱 최적화할 수 있습니다. 이 모델의 하드웨어/소프트웨어 구성 요소는 하드웨어 업그레이드가 가능하므로 장비 수명을 연장하고 TCO (총 소유 비용) 를 절감할 수 있습니다. 장점 T 3347 (ADVANTEST T 3347) 은 최고의 안전 및 품질 표준을 충족하면서 오늘날의 제조 지침을 충족하는 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 많은 수의 집적회로를 편리하고 자동화된 방식으로 처리할 수 있도록 설계되었으며, 이를 통해 효율성과 출력을 극대화할 수 있습니다 (영문).
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