판매용 중고 ADVANTEST T 3347 #293600398

ID: 293600398
Tester Processor: TP4A (2) Test heads I/O: 256 Channels PE Non-functional SYSTEM CONFIGURATION GENERATE Configuration of test station How many test station <1 or 2 & CR> ? 2 ................> 2 Test station 1 is 256HV2 Station1 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no What number of pin exist in station 1 ......................> 1-256 pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256 Test station 2 is 256HV2 Station2 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no What number of pin exist in station 2 ......................> 1-256 pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256 SELECT PPS/MDC/UDC System : 4PPS (1) or 8PPS (2) Select PPS (see above) <0-2 & CR> ? 2 ............> 2 Station 1 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4) Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 1 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4) Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 2 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4) Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2 Station 2 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4) Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2 60V PPS/UDC option exist <Y OR N & CR> ? no ........> no SELECT DMM R6871E (1) or R6581T (2) Select DMM (see above) <1-2 & CR> ? 1 ............> 1 GPIB ADDRESS #210 BIT/AD option exist <Y or N & CR> ? no .........................> no ADC test option exist <Y or N & CR> ? no .......................> no HV2-HSCLK option exist <Y or N & CR> ? no .......................> no Select option CLK 64TE CLK option exist <Y or N & CR> ? no .....................> no Select STE size STE capacity 256KW(1) 1MW(2) 2MW(3) Select STE size (see above) <1-3 & CR> ? 2 ...................> 2 SBM option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes How many SBM memory boards <1-8 & CR> ? 2 ...................> 2 ALPG option exist <Y or N & CR> ? no ...........................> no END SAVE.
ADVANTEST T 3347은 고도의 다기능 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템의 통합 설계를 통해 데이터 수집, 종합적인 분석, 포괄적인 디바이스 검증 등의 작업을 간소화할 수 있습니다. 장점 T3347은 PCI Express 옵티컬 인터페이스, 카메라 4개, 실시간 시각기, 고급 이미지 처리 기능으로 구성된 고성능 이미지 획득 플랫폼을 갖추고 있습니다. 이 장치의 이미징 플랫폼을 사용하면 솔더 조인트 (solder joint), 칩 패키지 연결 및 기타 신뢰성 테스트를 고급 검사할 수 있습니다. 최대 24 메가 픽셀 해상도의 고정밀 이미지를 캡처 할 수 있습니다. T 3347에는 쉽고 반복 가능한 테스트를 위해 설계된 직관적인 워크플로가 있습니다. 프로그래밍 가능한 운영 머신으로 제작된이 도구는 Windows 환경에서 실행되며, 기존 테스트 프로토콜에 빠르고, 쉽게 통합될 수 있습니다. 또한 다양한 테스트 장치 유형, 다중 신호 경로, 자동 테스트 (automated test), 내장 모듈식 테스트 스탠드 (built-in modular test stand) 와 같은 광범위한 내장 도구와 기능을 갖추고 있습니다. 에셋에는 "스마트 분석 (Smart Analysis)" 기능이 장착되어 있어 대상 장치와 전기 특성을 자동으로 감지 할 수 있습니다. 플라잉 프로브 테스트 (flying probe test), 방열 테스트 (thermal resistance test), 전력 무결성 평가 (power integrity assessment) 등 다양한 성능 테스트를 사용할 수 있습니다. 사용자 친화적인 소프트웨어 패키지를 통해 T3347은 빠르고 간단하게 테스트를 사용자 정의하고 자동화합니다. 이 모델은 엄격한 품질 관리 프로세스 (Quality Control process) 를 거쳤으며, 모든 발전은 제품 출시에 필요한 엄격한 테스트를 거칩니다. 또한, ADVANTEST T 3347은 독점 "스마트 테스트 센터 (Smart Test Center)" 서비스 프로그램의 일부이며, 제조업체는 테스트 및 검증을 위해 다양한 고급 엔지니어 서비스와 자동 솔루션을 제공합니다. 결론적으로 ADVANTEST T3347은 강력하고 고급 최종 테스트 장비입니다. 통합된 설계로, 이 시스템은 광범위한 기능, 기능 및 안정성을 제공합니다. 이 장치는 제조업체에 장치 기능을 보장하고 제품 성능을 검증하는 다용도 솔루션을 제공합니다.
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