판매용 중고 ADVANTEST T 3324 #188902

ADVANTEST T 3324
ID: 188902
Logic testers.
ADVANTEST T 3324는 웨이퍼 레벨 또는 장치 레벨 테스트를 위해 설계된 최종 테스트 장비입니다. 이 시스템은 DUT (Small and Large Device Under Test) 유형을 모두 지원하며 대용량 운영 요구를 지원할 수 있습니다. 이 제품은 가전 업계의 대용량 고객에게 중요한 특징으로, 테스트 역량을 극대화해야 합니다 (영문). 장점 T3324에는 TIB (Test Interface Board) 및 TVG (Test Vector Generator) 가 통합되어 있습니다. 이를 통해 DUT의 다중 테스트가 가능하며, 모든 테스트 결과가 구문적으로 정확한지 확인합니다. TIB 및 TVG 는 단일 테스트 스테이션에 내장되어 있어, 보다 쉽고 빠른 테스트를 수행할 수 있습니다. 이 통합 테스트 스테이션은 프로세스 시간 향상, 공간 절약, 성능 최적화를 위해 설계되었습니다. T 3324 테스트 유닛은 또한 높은 수준의 테스트 제어 및 유연성을 제공합니다. 예를 들어, "입력/출력" 신호를 완벽하게 제어하여 사용자는 테스트 환경을 쉽게 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 T3324 는 전력 소모량 (Power Consumption Value) 을 캡처하여 훨씬 더 정확한 테스트가 가능합니다. 이 머신은 또한 광범위한 디바이스 지원 (device support) 을 제공하여 테스트 (test) 를 다른 유형의 디바이스와 난이도에 맞게 쉽게 조정할 수 있습니다. 장점 T 3324 (ADVANTEST T 3324) 는 시간당 최대 30,000 회의 테스트 시간을 지원할 수 있으므로 빠른 속도로 생산할 수 있는 최적의 솔루션입니다. 또한 다른 테스트 장비와 통합하여 멀티스테이션 (multi-station) 테스트를 쉽게 수행하여 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있습니다. 이러한 기능 외에도, ADVANTEST T3324 는 통계 프로세스 제어 및 품질 보장에 대한 보고서를 생성하여 테스트 프로세스를 더욱 간소화할 수 있습니다. 전반적으로 T 3324 는 효율적이고 효율적인 테스트 툴로, 가전 업계의 대용량 고객의 요구를 충족할 수 있도록 설계되었습니다. TIB 및 TVG 통합, 사용자 지정 테스트 매개변수, 고속 테스트 기능, 기존 테스트 장비와의 손쉬운 통합, TIB (Informated Test Parameter), 최종 테스트 요구에 이상적인 솔루션
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