판매용 중고 ADVANTEST T 2000 #9352910

ID: 9352910
SOC Tester With test head H7-110005 Installed components: (2) NEMIC LAMBDA CKA-3750/S (4) LAMBDA CKS-48-39A FENNEL SDP-STU (4) NEMIC LAMBDA SR60-24 NEMIC LAMBDA SR-60-5 (4) MITSUBISHI NV50-SWU ADVANTEST SUB AC1 ADVANTEST SUB AC2 ADVANTEST SUB AC3 ADVANTEST KH3-710037 TSURUTA ELECTRIC TPBX-63KUL84 CENTRE COM GS924M.
ADVANTEST T 2000은 반도체 제품을위한 고성능 최종 테스트 장비입니다. 이 제품은 고객에게 선적되기 전에 생산 마지막 단계에서 반도체 IC (IC) 제품을 테스트하는 데 사용됩니다. ADVANTEST T2000은 웨이퍼 레벨 (wafer level) 에서 중요 보드 레벨 (critical board level) 테스트에 이르기까지 다양한 개별 테스트 기능을 제공합니다. 최대 12 개의 웨이퍼 (wafer) 를 병렬로 테스트할 수 있으며, 광범위한 지원 기능을 갖춘 대부분의 복잡한 회로 장치를 처리 할 수 있습니다. 이 시스템은 완전하게 자동화된 테스트 기능을 갖추고 있으므로 테스트 프로세스는 매우 정밀하게 신속하게 완료할 수 있습니다. 테스트 프로세스 사양 (mid-test) 을 변경할 수 있도록 유연하게 설계되었습니다. 다중 사이트 테스트 (Multi-Site Testing) 도 지원되므로 하나의 테스트 유닛을 동시에 여러 테스트에 사용할 수 있습니다. T 2000 은 광범위한 테스트 기능 라이브러리를 통해 높은 처리량과 정확도를 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템에는 초고속 데이터 획득 툴이 장착되어 있어, 높은 성능을 보장합니다. 에셋은 더 간단한 장치 테스트를 위해 시리즈 (Series) 및 병렬 (Parallel) 의 여러 테스트에 사용될 수도 있습니다. T2000은 온보드 온도 컨트롤러로 온도 조절 화상, 열 프로파일링, 프로세스 모니터링을 수행할 수 있습니다. 또한 자동화 (automation) 기술이 적용되어 복잡하고 자동화된 테스트 작업에 이상적입니다. ADVANTEST T 2000에는 분석 및 진단, 프로세스 최적화에 이르기까지 다양한 소프트웨어 애플리케이션이 포함되어 있습니다. 또한 실시간 데이터 처리/보고 기능, 디바이스 모델 라이브러리, 대화형 GUI (Graphical User Interface) 등을 지원하여 테스트 설정 및 평가를 간편하게 수행할 수 있습니다. 이 모델은 생산 및 품질 관리 분야에서 탁월한 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 특정 애플리케이션에 맞게 조정할 수 있는 테스트 프로그램 (Test Program) 과 자동 미션 (Automated Mission) 을 제공합니다. ADVANTEST T2000 (ADVANTEST T2000) 은 짧은 시간 내에 매우 정확한 테스트 결과를 제공하도록 설계된 고급 최종 테스트 장비입니다. 광범위한 테스트 기능 (Test Function) 을 제공하며, 최고 속도와 정확도로 우수한 테스트 결과를 제공할 수 있습니다.
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