판매용 중고 ADVANTEST T 2000 #9165412
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ID: 9165412
빈티지: 2013
Tester
Configuration:
Board Module
(8) DPS 500mA
(22) 800Mbps DM
(2) LCDPS
(2) BBWGD
(4) PMU32
(2) AAWGD
(1) RC5V
Module information:
[MODULE] [SLOT] [BUS] [CHANNEL]
LCDPS 5 5 1 - 8
LCDPS 48 28 9 - 16
AnalogSync 26 17 EXIST
DPS500mA 6 6 1 - 32
DPS500mA 32 12 33 - 64
DPS500mA 33 13 65 - 96
DPS500mA 20 23 97 - 128
DPS500mA 9 35 129 - 160
DPS500mA 19 49 161 - 192
DPS500mA 46 55 193 - 224
DPS500mA 43 58 225 - 256
SyncGen36 1 1 EXIST
JMM 52 24 1 - 8
BBWGD 35 41 1 - 32
BBWGD 17 51 33 - 64
DM800MBPS 2 2 1 - 128
DM800MBPS 3 3 129 - 256
DM800MBPS 4 4 257 - 384
DM800MBPS 28 8 385 - 512
DM800MBPS 29 9 513 - 640
DM800MBPS 30 10 641 - 768
DM800MBPS 31 11 769 - 896
DM800MBPS 25 18 897 - 1024
DM800MBPS 24 19 1025 - 1152
DM800MBPS 23 20 1153 - 1280
DM800MBPS 22 21 1281 - 1408
DM800MBPS 51 25 1409 - 1536
DM800MBPS 50 26 1537 - 1664
DM800MBPS 49 27 1665 - 1792
DM800MBPS 12 38 1793 - 1920
DM800MBPS 13 39 1921 - 2048
DM800MBPS 38 44 2049 - 2176
DM800MBPS 39 45 2177 - 2304
DM800MBPS 15 53 2305 - 2432
DM800MBPS 14 54 2433 - 2560
DM800MBPS 41 60 2561 - 2688
DM800MBPS 40 61 2689 - 2816
AAWGD 36 42 1 - 32
AAWGD 16 52 33 - 64
PMU32 7 33 1 - 32
PMU32 10 36 33 - 64
PMU32 45 56 65 - 96
PMU32 42 59 97 - 128
SyncMtx36 56 - EXIST
SyncMtx36 54 - EXIST
2013 vintage.
ADVANTEST T 2000은 집적 회로 (IC) 및 SOC (System on Chips) 에 대한 최종 테스트를 수행하는 데 사용되는 최종 테스트 장비입니다. 최신 테스트 기술 (Testing Technology) 과 테스트 서비스 (Test Services) 를 사용하여 고품질 테스트를 보장하는 모듈식 플랫폼입니다. 이 장치는 대규모 및 소규모 IC 및 SOC 제조업체와 테스트 하우스의 요구를 모두 충족하도록 설계되었습니다. 장점 (ADVANTEST) T2000은 빠른 처리량과 비용 효율성을 유지하면서 품질을 극대화하는 다양한 기능을 제공합니다. 멀티 사이트 테스트, 높은 처리 속도, 신뢰성을 제공하는 고속 머신 버스 (High-Speed Machine Bus) 및 테스트 아키텍처를 갖추고 있습니다. 이 도구에는 고속 아날로그 측정 모듈 (고밀도 Probe 카드) 이 있으며 여러 DUT에 대해 구성할 수 있습니다. 자산은 광범위한 테스트 전략을 제어합니다. 여기에는 파라 메트릭 특성 테스트, 전원 리드 및 본드 와이어, 절연 테스트 등이 포함됩니다. 또한 다양한 테스트 알고리즘 및 테스트 구조 (Test Structure) 에 대한 지원 기능이 내장되어 있으므로 테스트의 정확성과 종합성이 향상됩니다. 이것은 더 높은 수준의 생산 품질을 제공합니다. 이 모델은 고급 결함 검사 기능도 제공합니다. 광 결함 감지기는 약한 신호 스위치와 잘못된 DUT 작동을 신속하게 식별 할 수 있습니다. 이 장비는 또한 종합적인 테스트를위한 인라인 도량형 (in-line metrology) 을 제공하여 소규모 결함을 감지 할 수 있습니다. T 2000 은 유연성을 위해 최적화되어 여러 제품 범주를 동시에 테스트할 수 있습니다. 또한 ATPG (Automatic Test Program Generation) 를 통해 테스트 프로그램을 프로그래밍하고 유지하는 데 필요한 노력을 최소화합니다. 이 시스템에는 TFA (Test Flexibility Architecture) 도 있습니다. 이 아키텍처는 가상화 오버레이 (Virtualization Overlay) 를 기반으로 하며, 이 장치를 논리, 패키지, 테스트 요구 사항 및 테스트 방법의 변화에 동적으로 적응할 수 있습니다. 오버레이는 또한 데이터 링크 인터페이스 테스트 및 합성을 허용합니다. 마지막으로, 이 기계는 테스트 랩 자동화와 쉽게 통합되며, 이를 통해 글로벌 테스트 및 툴 모니터링을 수행할 수 있습니다. 따라서 다른 위치의 테스트 결과를 쉽게 측정, 분석, 비교하고, 보고서와 생성된 데이터를 간편하게 관리할 수 있습니다. 요약하자면, T2000 Final Test Asset은 IC와 SOC 제조업체에 광범위한 테스트 서비스와 기능을 제공하는 포괄적이고 유연한 모델입니다. 높은 처리 속도, 안정성, 정확성 및 고급 결함 검사 기능을 제공합니다. 또한 테스트 유연성 아키텍처 (Test Flexibility Architecture) 를 통해 변화하는 논리 및 테스트 요구 사항에 쉽게 적응할 수 있으며, 테스트 랩 자동화 시스템과 쉽게 통합됩니다.
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