판매용 중고 ADVANTEST HP83000 #9278709

장점 HP83000 (ADVANTEST HP83000) 은 반도체 장치의 기능 및 성능을 측정하는 데 사용되는 고성능 자동 타사 테스트 장비입니다. 이 시스템은 범용 소비자, 고속 프로세서, ASIC 등의 특수 장치에 이르기까지 다양한 애플리케이션에 대해 최종 테스트 작업을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 테스트 중인 실제 장치가 포함된 테스트 셀 스테이션 (Test Cell Station) 과 제어 모듈 (Control Module) 로 구성됩니다. 테스트 셀 스테이션은 테스트 헤드, 하위 시스템 및 컨트롤러로 구성됩니다. 테스트 헤드 (Test Head) 는 다양한 테스트 작업에 전문화 된 테스트 장비를 쉽게 사용할 수 있도록 하는 전기 기계 포지셔닝 및 측정 장치입니다. Sub-Systems 모듈은 장치 전원 공급 장치, I/O 인터페이스, 테스트 제어, 오류 감지 및 복구 기능을 제공합니다. Controller는 고정장치 준비, 데이터 캡처, 결과 분석 등 테스트 작업을 조정합니다. 테스트 셀 스테이션 (Test Cell Station) 은 테스트 프로그램 개발, 고정장치 처리 및 장치 수준 데이터 스토리지를 위한 중앙 집중식 서버를 제공하는 제어 모듈 (Control Module) 에 연결됩니다. 또한 Control Module 에는 테스트 시스템을 외부 환경에 연결하고 프로그램 정보를 Test Cell Station 에 전달하는 Prober Interface Module 이 포함되어 있습니다. 또한 Control Module 은 자동 시스템 설정을 제공하고, 테스트 객체를 전달하고, 테스트 결과를 나열하며, RTPC (Remote Programming and Testing) 모드를 사용하여 실시간 테스트에 액세스할 수 있습니다. RTPC 모드에서 Control Module 은 테스트 툴 내에서 PLC (programmable logic controller) 에 테스트 프로그램을 생성하고 실행할 수 있습니다. ADVANTEST HP 83000은 다양한 테스트 작업을 실행할 수 있으며, 플래시 메모리뿐만 아니라 랜덤 논리 (random logic), 선형 (linear), 디지털 논리 IC (digital logic IC) 등 다양한 유형의 반도체 장치에 대해 테스트를 수행할 수 있습니다. 또한, 이 자산은 복잡한 디바이스에 대해 고속, 다중 채널 측정 및 제어 디버깅을 수행할 수 있습니다. 이 모델에는 '빠른 스캔 (Fast-Scan)' 기능이 장착되어 있어 짧은 시간 내에 여러 장치를 동시에 테스트하고 연결할 수 있습니다. HP83000 은 업계 최고의 성능, 정확성, 신뢰성을 제공하는 매우 다양한 디바이스 테스트 장비입니다. 이 고성능 시스템은 다양한 디바이스를 테스트할 수 있는 비용 효율적이고 안정적인 솔루션을 제공합니다 (영문). 유연한 사용자 인터페이스는 사용이 간편하며 테스트 계획 (Test Plan) 을 자동으로 실행하여 정확성과 일관성을 보장합니다. 이 장치는 다양한 유형의 디바이스를 테스트하고 분석하는 데 안정적이고 효율적인 (RSD) 방법을 제공하는 연구 개발 (Research and Development) 뿐만 아니라, 생산에 사용하기에 적합합니다.