판매용 중고 ADVANTEST H3-6815 #9105566

장점 H3-6815 (ADVANTEST H3-6815) 는 다양한 반도체 장치의 대용량, 고정밀 테스트를 위해 설계된 강력한 최종 테스트 장비입니다. 디지털 및 아날로그 반도체와 혼합 신호 반도체를 모두 테스트 할 수 있습니다. 이 시스템은 단일 다이 IC (single-die IC) 에서 다중 칩 모듈 (multi-chip module) 또는 장치 수준 (unit-level) 제품에 이르기까지 다양한 제품군에 사용할 수 있습니다. H3-6815는 0.3mm 패키지에서 최대 68 가지 유형의 반도체를 동시에 테스트 할 수 있습니다. ADVANTEST H3-6815 의 핵심은 고속 멀티플렉스 인터페이스 (Multiplex Interface) 를 통해 동시 데이터 획득 및 비교기 출력을 지원하며, 다양한 반도체 장치의 정확한 테스트를 보장합니다. 고급 웨이퍼 레벨 테스트 기능을 사용하면 웨이퍼 레벨에서 다이 특성을 빠르게 측정 할 수 있습니다. 고급 아키텍처는 16 비트/16 채널 아날로그-디지털 컨버터 (analog-to-digital converter) 및 디지털 비교 논리 회로 (digital comparison logic circuit) 와 모든 유형의 반도체 구성 요소에 대한 포괄적인 테스트를 위한 복잡한 지원 논리를 포함합니다. 또한 H3-6815에는 테스트 속도와 정확도를 높이는 기능이 있습니다. 고속 병렬 데이터 이동 및 데이터 전송은 고급 벡터 스위칭 (vector switching) 기술을 통해 활성화됩니다. 메모리 BIST (내장 메모리 BIST) 기술을 통해 장애 진단이 용이하며, 5인치 (듀얼) 디스플레이가 장착된 컨트롤 패널을 통해 테스트 상태 및 설정을 쉽게 액세스할 수 있습니다. 장점 H3-6815 (ADVANTEST H3-6815) 는 다양한 조건에서 테스트를 위해 프로그래밍 가능한 자동 보정을 제공하며 IC 및 SMT 장치에서 병렬 테스트를위한 배경 노이즈 제거 기술을 제공합니다. H3-6815는 유연성과 사용 편의성도 고려하여 설계되었습니다. 포괄적인 옵션 라이브러리를 사용하여 ADVANTEST H3-6815 테스트 시스템을 사용자 정의할 수 있습니다. 추가 인터페이스 채널, 데이터 스토리지용 온보드 메모리, 확장 I/O 포트 등의 옵션이 제공됩니다. 또한 H3-6815 는 범용 언어 인터페이스 (Universal Language Interface) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 다양한 언어로 프로그램을 코딩하고 실행할 수 있어 테스트 유연성이 향상됩니다. 장점 H3-6815 (ADVANTEST H3-6815) 는 다양한 반도체 부품에 대한 고정밀 테스트를 위해 설계된, 강력하고, 유연한 최종 테스트 도구입니다. 이 제품은 고속 데이터 수집 및 비교자 (Comparator) 출력의 다양한 채널과 고속 기능을 제공하며, 광범위한 테스트 및 디버깅 기능을 제공하여 정확하고 안정적인 결과를 제공합니다. 옵션의 라이브러리와 여러 언어를 지원하는 H3-6815 는 어떠한 요구 사항에도 유연성과 편리함을 제공합니다.