판매용 중고 ADVANTEST B6700 #293759963
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ID: 293759963
빈티지: 2018
Burn-in testers
(4) BiB Racks
Diag board
Multi-zone function
Barcode reader
HITACHI Refrigerator
Memory: 8GB
(2) 1TB Hard Disk Drives (HDD)
Chamber:
Cooling system: Freezer with cooling water
(2) Zones
Temperature range: -10°C to 1550°C
Temperature accuracy:
+/-3°C at range of -10°C to +25°C (3.0 kW load at 24 slots)
+/-3°C at range of +25°C to +150°C (4.5 kW load at 24 slots)
Channel driver:
X: 24-bit
Y: 24-bit
CA: 24-bit
Scan signal: Driver 100 Channels
I/O Signal: 72 Channels
VIL: Fixed to 0 V
VIH: 0.4 V to 4.5 V
Driver skew: ±8 ns
Tr/Tf: < 25 ns at 500 pF
Operating system: Windows 10
PC
Power supply:
Resolution: 10 mV
Accuracy: ±0.5%, 30 mV
Output voltage:
VS1: +0.8 V to 4.5 V
VS2: +0.8 V to +4.05 V
VS3: +0.4 V to +15.0 V
VS4: +0.8 V to 4.5 V
VS5: +0.8 V to 4.5 V
Output current:
VS1: 40 A
VS2: 40 A
VS3: 2-Channels, 3 A
VS4: 20 A
VS5: 20 A
2018 vintage.
장점 B6700 최종 테스트 장비는 대용량 생산 환경을 위해 설계된 정교한 반도체 테스트 플랫폼입니다. 반도체 테스트 장비를 선도하는 ADVANTEST Corporation이 개발 한 B6700은 광범위한 집적 회로 (IC) 를 테스트하는 데 고급 기능, 안정성, 다용도로 유명합니다. FANTICEST B6700 시스템의 핵심은 모듈식 아키텍처 (modular architecture) 로, 반도체 제조업체의 발전하는 요구를 충족시킬 수 있는 유연성과 확장성을 제공합니다. 이 장치에는 디지털 (digital), 아날로그 (analog), 혼합 신호 (mixed-signal) 테스트 기능 등 여러 테스트 모듈을 수용할 수 있는 강력한 테스트 헤드가 장착되어 있습니다. 이 모듈식 설계를 통해 제조업체는 특정 테스트 요구 사항에 따라 시스템을 구성하고, 테스트 처리량을 최적화하고, 테스트 헤드 체인지오버 (changeover) 를 위한 다운타임을 최소화할 수 있습니다. B6700 도구는 정확하고 안정적인 테스트 인터페이스 (test interface) 를 제공하여 반복 가능하고 안정적인 테스트 결과를 보장합니다. 이 플랫폼에는 고급 측정 장치, 정밀 계측 장치, 신호 처리 기능이 장착되어 있어 IC 장치를 포괄적으로 테스트할 수 있습니다. 이 자산은 DC 파라 메트릭 측정, 기능 테스트, 성능 특성 등 다양한 테스트 기술을 지원하므로, 제조업체가 IC 설계의 무결성과 성능을 검증할 수 있습니다. ADVANTEST B6700 모델의 핵심 강점 중 하나는 테스트 품질을 저하시키지 않고 빠른 속도로 IC 디바이스에 대한 최종 테스트 (final testing) 를 수행하는 것입니다. 이 장비는 높은 정확도와 해상도를 유지하면서 빠른 테스트 시간을 달성할 수 있도록 설계되었으며, 제조업체는 생산 처리량을 극대화하고 반도체 (반도체) 제품의 출시 시간을 최소화할 수 있습니다. 또한 B6700 시스템은 고급 자동화 기능을 제공하여 테스트 프로세스를 간소화하고 전반적인 생산성을 향상시킵니다. 이 장치에는 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 가 장착되어 있어 운영자가 테스트 시퀀스를 쉽게 프로그래밍하고, 테스트 데이터를 분석하고, 포괄적인 테스트 보고서를 생성할 수 있습니다. 또한 원격 모니터링 및 진단 (diagnostics) 기능을 지원하여 테스트 결과와 공구 성능을 실시간으로 추적할 수 있습니다. ADVANTEST B6700 자산은 높은 테스트 범위, 낮은 테스트 비용, 빠른 출시 시간 등 반도체 업계의 엄격한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 이 모델은 강력한 하드웨어 구성 요소와 고급 소프트웨어 알고리즘으로 제작되어 복잡한 IC 디바이스에 대한 안정적이고 정확한 테스트를 보장합니다. 업계 최고의 성능과 다양한 기능을 갖춘 B6700 최종 테스트 장비 (final test equipment) 는 생산 테스트 프로세스를 최적화하고 고품질 IC 제품을 시장에 출시하려는 반도체 제조업체에게 선호되는 선택입니다. 전반적으로, ADVANTEST B6700 최종 테스트 시스템은 최첨단 반도체 테스트 플랫폼으로, 대용량 운영 환경에 탁월한 성능, 안정성, 유연성을 제공합니다. 고급 기능, 모듈식 설계 (modular design), 자동화 (automation) 기능을 통해 반도체 제조업체가 반도체 제품에 대해 높은 테스트 처리량, 낮은 테스트 비용, 빠른 출시 시간을 달성하고자 하는 최적의 선택입니다.
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