판매용 중고 SPTS Sigma FxP #9058880

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제조사
SPTS
모델
Sigma FxP
ID: 9058880
웨이퍼 크기: 6"
PVD System, 6" Aluminum, Ti, TiN deposition 8-Port Transport Module configured as follows: • 150 mm wafer size • Two Vacuum Cassette Elevators (VCE) • Transfer Chamber with high throughput Magnatran 7B Robot • Inligner for wafer pre-alignment • Cooldown Station for post-process wafer cooling • Pfeiffer TPH260 turbo pump for each VCE • CTI Onboard 8 Cryo Pump for Transfer Chamber Hot Soft etch (HSE) module (1): Inductively Coupled Plasma (ICP) module for wafer heating and/or surface preparation configured with: • Coil RF driven by AE RFX600A generator • Platen RF bias driven by AE RFX600A generator • Phase-locked matching • High temperature platen o Resistively heated o Set temperature range 80 to 600 °C o PID temperature controller with ±10 °C accuracy • Gas lines o 50 sccm MKS MFC for Ar (process) o 300 sccm MKS MFC for Ar (backfill heat) • Vacuum system o CTI Onboard 8F Enhanced Cryo Pump o MKS 50mT and 10 Torr full range Baratrons o Inficon BAG100S Ion Gauge o Two-position gate valve. Process chamber pressure is defined by gas flows Standard Aluminium deposition module (2): DC planar magnetron sputter module for thick aluminium deposition configured with: • 45 mm fixed target to wafer spacing • Swept-field magnetron • AE Pinnacle 30 kW DC Target PSU • Praxair Al (1%Si) monoblock UFG Target fitted for standard Trikon process acceptance testing • High temperature standard platen o Resistively heated o Set temperature range 50 to 400 °C o PID temperature controller with ±10 °C accuracy o Enhanced air cooling for thick film depositions • Gas lines o 100 sccm MKS MFC for Ar (process) • Vacuum system o CTI Onboard 8F Enhanced Cryo Pump o MKS 50 mT and 10 T full-range Baratron gauges o Inficon BAG100S ion gauge o Two-position gate valve. Gas flows define process pressure. Standard Aluminium/Ti/TiN/TiW deposition module (1): DC planar magnetron sputter module for aluminium deposition configured also to deposit titanium, titanium nitride or titanium tungsten. • 45 mm fixed target to wafer spacing • Swept-field magnetron • Slow magnetron motor for Cu-backed target operation • AE Pinnacle 30 kW DC Target PSU • Praxair Al (1%Si) monoblock UFG Target fitted for standard Trikon process acceptance testing • Shutter for in-situ target cleaning • High temperature standard platen o Resistively heated o Set temperature range 50 to 400 °C o PID temperature controller with ±10 °C accuracy o Enhanced air cooling for thick film depositions • Platen RF bias driven by AE RFX600A generator • Gas lines o 300 sccm MKS MFC for Ar (process) o 100 sccm MKS MFC for N2 (process) • MKS Microvision IP RGA • Vacuum system o CTI Onboard 8F Enhanced Cryo Pump o MKS 50mT and 10 Torr full range Baratrons o Inficon BAG100S ion gauge o Two-position gate valve. Gas flows define process pressure. Cluster tool controller (CTC) and datalogging PC: • 1 GHz Dual Pentium III with 1 Gb RAM • 40 Gb SCSI hard drive, 3.5 inch 1.44 Mb floppy, Zip, CD ROM • TCP/IP comms to Module Controllers Module controllers: • PC104-based • Geode 300MHz with 256 Mb RAM • Windows embedded OS with Compact Flash storage Operator interface: • High resolution colour touchscreen, with membrane keyboard in clean room interface panel • Maintenance keyboard and touchscreen in grey area. System and module mimic and status displays • Password access control to user-defined security levels • High and low-level control of individual devices subject to interlocks and level of security access Recipe programming: • Multi-step, multi-chamber recipes possible, with serial, parallel and recursive wafer sequencing • Recipe entries prompted and checked Event monitoring: • Alarms and events displayed and logged • Light tower displays system status. • Lot and wafer tracking supported • Process and machine parameters monitored and displays continuously updated • Process data logged to disk Data logging: • Captures measured values every second • Stored by wafer number/batch id/process step • Data displayed on GUI or can be exported to remote PC in .CSV file format for data manipulation Operating system/software: • Cluster Tool and Module Controllers run Windows OS • High-level software in C++ Host computer interface: • Fully SECS II/GEM compliant via HSMS The system is CE marked, conforming to the following standards: • Machine Directive 98/37/EC • EMC Directive 89/336/EEC • Low voltage Directive 73/23/EEC 2005 vintage.
SPTS Sigma FxP etcher/asher는 저렴한 25nm 이하의 프로세스 노드 제조를 위해 설계된 높은 처리량, 고급 에칭 및 애싱 솔루션입니다. 단일 통합 시스템에서 현장 고해상도 이미징, 고해상도 처리, RIE (Reactive Ion Etching) 및 ALD (Atomic Layer Deposition) 기능을 제공합니다. 이 플랫폼은 오늘날 주요 가전 제품 제조업체의 고급 포장 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. Sigma FxP의 고급 에칭 및 애싱 솔루션은 특히 박막 증착, 패턴, 웨이퍼 평면 화 등의 프로세스에 유익합니다. 이 제품은 여러 계층을 기판으로 불러올 수 있는 사용이 간편한 플랫폼을 제공합니다. 즉, 왼쪽의 잔류 (residue) 가 작고 프로세스 단계가 전통적인 기법보다 적습니다. SPTS Sigma FxP에는 고급 탐색 모듈 및 프로세스 컨트롤러, 매우 정교한 통합 진공 시스템이 있습니다. 공정 매개변수의 고정밀도, 실시간 모니터링 및 제어는 기존의 에칭 (etching) 또는 애싱 (ashing) 프로세스보다 더 높은 정확성을 제공합니다. 실시간 데이터는 프로세스 최적화에 사용될 수도 있습니다. 리호그래피 프로세스를 수용하기 위해, Sigma FxP는 개선 된 프로세스 제어 및 피드백을 위해 장치 기능의 직접 이미징을 지원합니다. 고급 광학은 대부분의 다른 에칭 및 애싱 시스템보다 높은 해상도를 허용하며, 보다 정확한 3D 미세 구조 특성을 제공 할 수 있습니다. SPTS Sigma FxP 플랫폼은 또한 처리 중 사용자의 개입을 줄이기 위해 고급 자동화 기능을 제공합니다. 특허를 획득한 두 개의 정밀 포지셔닝 시스템은 처리 헤드 (process head) 의 반복 가능하고 정확한 이동을 제공하여 정렬 정확성과 더불어 처리량 향상을 위한 정밀 로드 잠금 (precision load lock) 및 로드 포트 작업을 개선합니다. 또한 Sigma FxP는 고급 기판 처리 시스템을 통해 유연성이 향상되었습니다. 이를 통해 사용자는 손상의 위험이나 공정 오염 (Process Contamination) 없이 기판을 한 처리 스테이션에서 다른 처리 스테이션으로 이동할 수 있습니다. SPTS Sigma FxP는 높은 처리량과 높은 품질의 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 실시간 프로세스 모니터링, 제어 및 최적화 기능을 제공하여 다른 유사 시스템보다 높은 수익성을 제공합니다. 고급 이미징 (Imaging) 및 자동화 (Automation) 기능을 통해 프로세스 시간과 에너지 소비량 측면에서 비용을 절감할 수 있습니다. Sigma FxP는 안정성이 높으며, 평균 20 만 시간 이상의 고장 시간. 따라서 고급 하위 25nm 프로세스 노드 프로젝트의 응용 프로그램에 적합합니다.
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