판매용 중고 SOPRA GES-5E #293822945

SOPRA GES-5E (SOPRA GES-5E) 는 광선의 편광 변화를 측정하고 분석하여 박막과 층을 분석하는 데 사용되는 타원계입니다. 이 특정 모델은 다용도, 직관적, 신뢰할 수있는 것으로 간주되며, 20 나노 미터에서 2000 나노 미터 사이의 샘플 두께를 측정하고 높은 정도의 정확도로 주어진 필름을 검사하는 데 사용됩니다. 이 장치는 타원법 (Ellipsometry) 의 원리에서 작동하며, 다양한 층의 재료로 인한 광선 편광의 변화 및 각 광학 특성이 정확한 데이터를 제공하기 위해 해석됩니다. 알려진 입사각 (angle of incidence) 이 목표가 된 후, 빔의 편광은 이중 검출기 배열을 사용하여 측정된다. 검출기는 흩어진 방사선의 강도를 기록하며, 그 후 강력한 ARM 프로세서 (ARM processor) 와 정교한 알고리즘 및 소프트웨어 (software) 에 의해 처리되어 그래프가 형성됩니다. 이 그래프는 주어진 재료의 편광 변화 (change of polarization) 와 두께 (thickness) 의 측정 값을 표시합니다. GES-5E 는 데이터 분석 컴퓨터 및 터치 패널 사용자 인터페이스를 내장한 사용자 친화적인 올인원 (All-in-One) 설계로, 사용이 간편한 그래픽 인터페이스와 애플리케이션 소프트웨어 세트로 구성되어 있습니다. 이 인터페이스는 디스플레이, 데이터 분석, 보고 외에도 모든 설정, 매개변수를 수정할 수 있습니다. 이 장치에는 기계식 지지대 (mechanical support arm) 가 포함되어 있는데, 이를 통해 사용자는 샘플 스테이지에서 원하는 영역에 빔 스팟 (beam spot) 을 배치하고 1도 이내까지 동일한 입사각도를 유지할 수 있습니다. 이것은 샘플 샘플 표면의 광학 상수를 측정하는 데 기기의 높은 정확도를 보장합니다. SOPRA GES-5E에는 고강도 사고 파장을위한 석영 할로겐 램프와 350nm에서 1000nm의 이중 검출기 스펙트럼 범위가 장착되어 있습니다. 또한 원시 데이터 디스플레이, 동적 매핑, 전체 범위 매개변수 측정 등 다양한 측정 기능을 제공합니다. 직관적인 운영을 통해 재료 연구, 반도체, 광학 등 다양한 분야의 연구원, 엔지니어, 사용자에게 이상적인 선택이됩니다.