판매용 중고 SENTECH Senduro 300 #293644159

SENTECH Senduro 300
ID: 293644159
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 2008
Ellipsometer, 8" 2008 vintage.
SENTECH Senduro 300은 박막 도량형을위한 최첨단 타원계입니다. 이는 레이어 두께, 컴포지션, 밀도 및 기타 재료 매개변수를 매우 정확하고 정확하게 측정하도록 설계되었습니다. 이 장치는 여러 고급 광학 원리 (optical principles) 를 사용하여 스펙트럼의 적외선 및 가시적 범위에서 샘플의 편광 상태를 측정합니다. 센두로 300 (Senduro 300) 의 광학 구성에는 고정밀 압전 (piezoelectric goniometer) 과 간섭계 (interferometric polarimeter) 가 모두 포함되어 있습니다. 고니 오미터 (goniometer) 는 샘플을 정확하게 회전시키고 외부 타원체 매개변수에 대한 각도 의존 분석을 전달하는 데 사용됩니다. 조사 대상 재료에 따라 적절한 입사각을 선택하고, 굴절률 (refractive index), 소멸 계수 (extinction coefficient), 복합 유전율 (complex dielectric function) 과 같은 광학 상수를 도출하는 데 2 각도 극성계를 사용합니다. SENTECH Senduro 300은 매우 높은 정확도를 실현 할 수 있으며, 빠른 비 접촉 측정을 특징으로합니다. 샘플 위치는 통합 수동 스테이지와 내장 모터 스테이지 (Motorized Stage) 를 사용하여 조정됩니다. 후자는 컨트롤러 (controller) 와 레이저 포인터 (laser pointer) 를 장착하여 샘플 표면을 정확하게 정렬 할 수 있습니다. 센두로 300 (Senduro 300) 은 뛰어난 정확도와 측정 속도를 제공하는 것 외에도 여러 가지 고급 소프트웨어 기능을 갖추고 있습니다. 예를 들어, 타원계 (ellipsometer) 에는 자동 온도 조절 및 온도 보상 시스템이 포함되어 있으므로 넓은 온도 범위에서 일관된 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 SENTECH Senduro 300에는 정교한 다중 계층 분석 도구와 다양한 보고서 사진, 그래픽 표현이 포함되어 있습니다. 고급 옵틱, 정밀 이동 가능한 스테이지, 강력한 소프트웨어 덕분에 Senduro 300은 박막 재료를 위한 귀중한 특성 도구입니다. 또한 레이어 두께, 컴포지션, 밀도, 기타 다양한 매개변수에 대한 정확하고 반복 가능한 측정이 가능합니다. 이것은 반도체 및 광학 장치 제조에서 품질 보증을위한 귀중한 도구입니다.
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