판매용 중고 SENTECH SE 400ADV #9359635

SENTECH SE 400ADV는 얇은 필름의 두께와 광학 상수를 측정하도록 설계된 고급, 고정밀 스캐닝 타원계입니다. 뛰어난 정확성과 반복성을 제공하므로 표면 품질 (surface quality) 을 추적하고 시간에 따라 변형을 처리할 수 있습니다. 이 기기는 2축 회전 장착 플랫폼 (rotational mounting platform) 을 갖추고 있어 다양한 샘플을 스캔할 수 있으며, 넓은 활성 영역의 경우 직경이 20mm까지 측정할 수 있습니다. SENTECH SE400ADV는 고성능 분광계와 쌍을 이루는 단색 장치 제어 광원을 사용합니다. 이 조합은 빛이 표본에서 반사 될 때 발생하는 광편광 (light polarization) 의 변화를 측정하는 데 사용됩니다. 이 기구 는 여러 가지 측정 값 과 측정 값 을 사용 하여, 표본 에 있는 표본 의 두께, 조성물, 층 을 "샘플 '로 결정 할 수 있다. 이 시스템에는 사용이 간편한 GUI (Graphic User Interface) 를 통해 데이터를 효율적으로 수집하고 분석할 수 있는 통합 샘플 전용 소프트웨어도 포함되어 있습니다. SE 400ADV는 반도체, 박막 층, 폴리머 및 기타 여러 재료와 같은 다양한 적용 가능한 재료를 제공합니다. 투명 (transparent) 및 불투명 (opaque) 샘플 재료와 호환되므로 다양한 필름 구조와 레이어 두께를 분석할 수 있습니다. 정확한 광학 경로 길이 정렬을 통해 임계 치수와 두께 측정이 뛰어난 소규모 (small-scale) 샘플을 정확하게 분석할 수 있습니다. 또한 데이터 기반 FilmSmart (TM) 기술을 통해 각 샘플에 대한 측정 하드웨어를 자동으로 최적화하여 최고의 정확도를 보장합니다. 또한, 여러 샘플에 대해 빠르고 쉽게 설치할 수 있으므로 생산 설비 (production facility) 에 이상적입니다. 전체적으로, SE400ADV는 신뢰할 수 있고, 정확한 스캐닝 타원계로, 박막 레이어, 재료, 광학 상수의 정확하고 상세한 측정을 위해 다양한 기능과 정확도를 제공합니다.