판매용 중고 SENTECH SE 400ADV #9316098

SENTECH SE 400ADV (SENTECH SE 400ADV) 는 타원계로 다양한 기판에서 박막 광학 특성을 비파괴적, 정확하고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 타원계 (Ellipsometer) 는 강력한 기능의 모음을 제공하며, 매우 짧은 시간 안에 금속 기판에서 유전체 필름의 반사 (reflection) 및 투과층 (transmission layer) 두께를 모두 측정 할 수있는 다재다능한 도구입니다. SENTECH SE400ADV는 원형 편광 광원과 비 이미징, 동축 및 지시 조명 시스템을 형성하는 목표로 설계되었습니다. 이를 통해 측정된 샘플이 그대로 유지되도록 비파괴적 (non-destructive) 분석을 수행할 수 있습니다. SE 400ADV의 스팟 크기는 2mm의 샘플 빔 측정으로 조정 가능합니다. 대물렌즈 (objective lens) 는 반사되고 굴절된 빛을 모아서 빔을 정밀 분광사진계에 집중시킵니다. SE400ADV 분석에는 각각 고유한 기능을 갖춘 세 가지 측정 구성이 포함되어 있습니다. 샘플에 대한 광학 상수 결정 (예: 굴절 지수, 흡수) 은 매개변수화 된 데이터를 수집하여 달성 할 수 있습니다. 타원계를 사용하여 이중 파장 구성의 박막 레이어 (thin-film layers) 의 두께를 결정할 수도 있습니다. 이 세 가지 구성은 단일 자동 스캔으로 기록되며 SENTECH 소프트웨어를 통해 결과를 수량화할 수 있습니다. SENTECH SE 400ADV 설정에는 내장 거친 표시기가 함께 제공됩니다. 이를 통해 기질의 서피스 거칠기를 분석 할 수 있습니다. 기기에는 고급 자동 파장 선택도 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 특정 기판에 올바른 파장을 사용하여 더 빠르게 분석할 수 있습니다. 악기 자체는 궤도 드리프트가 매우 낮으며, 이는 저소음 광원과 활성 열전 냉각 (thermoelectric cooling) 을 사용한 결과입니다. 내장 컴퓨터 인터페이스에는 탐색하기 쉬운 7 인치 디스플레이가 제공됩니다. 또한, 이 인터페이스를 통해 빠르고 간편한 소프트웨어 업그레이드와 업데이트가 가능합니다. 또한 사전 정의된 여러 응용 프로그램 (application program) 을 통해 데이터를 빠르고 정확하게 수집하고 분석할 수 있습니다. SENTECH SE400ADV는 박막 특성화를위한 정확하고 강력한 도구입니다. 다양한 기능을 통해 박막 광학 특성을 빠르고 쉽게 측정 할 수 있습니다. 이 장치에는 사전 정의된 응용 프로그램 (application program) 과 내장형 컴퓨터 인터페이스 (computer interface) 가 포함되어 있어 박막 광학 속성을 적시에 정밀하게 측정해야 하는 전문가에게 적합합니다.